一种半导体芯片的测试平台制造技术

技术编号:41849266 阅读:19 留言:0更新日期:2024-06-27 18:27
本技术涉及半导体芯片技术领域,具体的说是一种半导体芯片的测试平台,包括操作台、调节底板和测试板,调节底板一侧通过转动轴安装在操作台上,操作台底部设置有角度调节组件,角度调节组件包括调节油缸、推动杆和定位球块,调节油缸固定安装在操作台底部,推动杆安装在调节油缸一端,定位球块安装在推动杆一端,操作台底部开设有卡放槽,卡放槽的内壁上开设有弧形滑槽,推动杆设置在卡放槽内,定位球块卡设在弧形滑槽内,测试板设置在调节底板顶部,测试板上开设有定位孔,测试板两侧底部均安装有连接块,本技术通过角度调节组件能够根据操作习惯及展示需求调节调节底板和测试板的角度,因此使用灵活,方便展示。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种半导体芯片的测试平台,属于半导体芯片。


技术介绍

1、半导体芯片是在半导体片材上进行浸蚀,布线,制成的能实现某种功能的半导体器件。不只是硅芯片,常见的还包括砷化镓(砷化镓有毒,所以一些劣质电路板不要好奇分解它),锗等半导体材料,为了满足量产上的需求,半导体的电性必须是可预测并且稳定的,因此包括掺杂物的纯度以及半导体晶格结构的品质都必须严格要求。常见的品质问题包括晶格的位错、孪晶面或是堆垛层错都会影响半导体材料的特性。为了生产后的半导体芯片能够正常使用,一般需要对其进行测试,测试时需要在专用的测试平台上进行,现在的测试平台大都是固定结构,不能根据测试人员习惯进行角度调节,并且不方便展示测试过程。

2、有鉴于此特提出本技术来帮助解决上述问题。


技术实现思路

1、本技术的目的就在于为了解决上述问题而提供一种半导体芯片的测试平台,通过角度调节组件能够根据操作习惯及展示需求调节调节底板和测试板的角度,因此使用灵活,方便展示。

2、本技术通过以下技术方案来实现上述目的,一种半导体芯片本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体芯片的测试平台,其特征在于:包括操作台(1)、调节底板(2)和测试板(3),所述调节底板(2)一侧通过转动轴安装在所述操作台(1)上,所述操作台(1)底部设置有角度调节组件(4),所述角度调节组件(4)包括调节油缸(401)、推动杆(402)和定位球块(403),所述调节油缸(401)固定安装在所述操作台(1)底部,所述推动杆(402)安装在所述调节油缸(401)一端,所述定位球块(403)安装在所述推动杆(402)一端,所述操作台(1)底部开设有卡放槽(5),所述卡放槽(5)的内壁上开设有弧形滑槽(6),所述推动杆(402)设置在所述卡放槽(5)内,所述定位球块(403)...

【技术特征摘要】

1.一种半导体芯片的测试平台,其特征在于:包括操作台(1)、调节底板(2)和测试板(3),所述调节底板(2)一侧通过转动轴安装在所述操作台(1)上,所述操作台(1)底部设置有角度调节组件(4),所述角度调节组件(4)包括调节油缸(401)、推动杆(402)和定位球块(403),所述调节油缸(401)固定安装在所述操作台(1)底部,所述推动杆(402)安装在所述调节油缸(401)一端,所述定位球块(403)安装在所述推动杆(402)一端,所述操作台(1)底部开设有卡放槽(5),所述卡放槽(5)的内壁上开设有弧形滑槽(6),所述推动杆(402)设置在所述卡放槽(5)内,所述定位球块(403)卡设在所述弧形滑槽(6)内。

2.根据权利要求1所述的一种半导体芯片的测试平台,其特征在于:所述测试板(3)设置在所述调节底板(2)顶部,所述测试板(3)上开设有定位孔(7)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体芯片的测试平台,其特征在于:所述测试板(3)两侧底部均安装有连接块(8),所述调节底板(2)顶部两侧均开设有连接槽(9),所述连...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄卫东顾展华张建新黄允昌樊键雄
申请(专利权)人:成都德瑞科技有限责任公司
类型:新型
国别省市:

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