【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于显示面板检测领域，涉及一种显示面板缺陷的磁场检测方法及检测装置。
技术介绍
1、近些年来，显示面板行业快速发展，从而带动显示面板的质检需求急剧增加。传统的显示面板缺陷检测主要是由人眼辨别，但是人眼识别的效率低且不精准，这给生产显示面板的企业在质量和效率上带来了很大的困难。有鉴于此，采用一种新型的显示面板质量检测方式来代替人工检测是亟待解决的技术问题。近年来，许多基于计算机视觉的面板缺陷检测系统不断涌现，但各厂商利用的缺陷检测算法基本上都是比较传统的视觉方法。随着生产工艺的不断进步，检测要求随之提高，检测精度要求更加精准，对算法的实时性要求也大大提高。随着检测行业的发展，检测手段主要分为传统光学检测及传统电气检测，但是不管是传统电气检测还是传统光学检测，均存在缺陷不足，比如：
2、传统电气检测技术的精准却高效，但是在屏幕封装完成后无法检测，且资源使用率低，使用场景单一。
3、传统光学检测技术的设备昂贵，并且只能通过光学手段判断单一的缺陷类型，无法精确确定各种缺陷情况。国内众多厂商正在研发，但仍旧未能突破技术瓶颈。
4、因此，基于上述问题，有必要对显示面板缺陷的检测方法做进一步研究，从而提高检测精度。
5、应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本专利技术的技术方案进行清楚、完整的说明，并方便本领域技术人员的理解而阐述的。不能仅仅因为这些方案在本专利技术的
技术介绍
部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。
技术实现思路
1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种显示面板缺陷的磁场检测方法及检测装置，用于解决现有技术中传统光学检测技术的设备昂贵且无法精确确定各种缺陷，同时传统电气检测技术设备使用率低，使用场景单一的问题。
2、为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种显示面板缺陷的磁场检测方法，所述显示面板缺陷的磁场检测方法包括：通过磁传感器测量得到待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号，将所述待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号进行比较；若所述待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号一致，则表示所述待测显示面板无缺陷；若所述待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号不一致，则所述待测显示面板存在缺陷；
3、若所述待测显示面板存在缺陷，则通过测试所述待测显示面板上的测试行的磁场信号，将所述待测显示面板的所述测试行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号进行比较，以确定所述测试行是否存在缺陷；通过测试所述待测显示面板上的测试列的磁场信号，将所述待测显示面板的所述测试列的磁场信号与正常发光的显示面板的对应列的磁场信号进行比较，以确定所述测试列是否存在缺陷，
4、基于所述存在缺陷的测试行和所述存在缺陷的测试列，获得存在缺陷的像素点的磁场信号。
5、可选地，测试所述待测显示面板上的测试行的磁场信号的步骤包括：选中所述待测显示面板的测试行，驱动芯片为所述测试行的像素点的阳极提供高电平信号，为所述测试行的像素点的阴极提供低电平信号，为未测试行的像素点的阴极提供高电平信号；以将所述测试行与所述驱动芯片之间形成测试回路，通过磁传感器测试所述测试行的磁场信号
6、可选地，测试所述待测显示面板上的测试列的磁场信号的步骤包括：选中所述待测显示面板的测试列，驱动芯片为所述测试列的像素点的阳极提供高电平信号，为未测试列的像素点的阳极提供低电平信号，为所述测试列的像素点的阴极提供低电平信号，以将所述测试列与所述驱动芯片之间形成测试回路，通过磁传感器测试所述测试列的磁场信号。
7、可选地，选中所述待测显示面板的测试列，驱动芯片的阳极为所述测试列的像素点提供高电平信号，为未测试列的像素点提供低电平信号，阴极为所述测试列的像素点提供低电平信号，以将所述测试列与所述驱动芯片之间形成测试回路，通过磁传感器测试所述测试列的磁场信号。
8、可选地，所述显示面板缺陷的磁场检测方法还包括计算所述存在缺陷的行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号之间的行差值，根据所述行差值确定存在缺陷的行上的像素点产生缺陷的类型；或计算所述存在缺陷的列的磁场信号与正常发光的显示面板的对应列的磁场信号之间的列差值，根据所述列差值确定存在缺陷的列上的像素点产生缺陷的类型。
9、可选地，确定所述待测显示面板产生缺陷的类型的方法包括：若所述差值为点亮单个像素点的驱动电流的磁场信号n倍，则存在像素点无法点亮；其中n为大于等于1的自然数；
10、若所述差值小于点亮单个像素点的驱动电流的磁场信号，则存在像素点未能正常发光。可选地，确定所述待测显示面板上存在缺陷的行的步骤包括：
11、a)比较所述待测显示面板的测试行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号是否相等；
12、b)若相等，则判断是否为最后一行；若不相等，则标记所述测试行的对应位置及磁场信号；
13、若不是最后一行，则重复步骤a)至b)，直至扫描到所述待测显示面板的最后一行。
14、可选地，确定所述待测显示面板上存在缺陷的列的步骤包括：
15、d)比较所述待测显示面板的测试列的磁场信号与正常发光的显示面板的对应列的磁场信号是否相等；
16、e)若相等，则判断是否为最后一列；若不相等，则标记所述测试列的对应位置及磁场信号；
17、f)若不是最后一列，则重复步骤d)至e)，直至扫描到所述待测显示面板的最后一列。
18、本专利技术还提供一种显示面板缺陷的磁场检测装置，所述显示面板缺陷的磁场检测装置用于实现上述显示面板缺陷的磁场检测方法，所述显示面板缺陷的磁场检测装置包括磁传感器、驱动芯片和待测显示面板；
19、所述待测显示面板上设置有x行×y列的像素点阵列；x、y均为大于1的自然数；
20、所述驱动芯片用于驱动所述待测显示面板上的像素点；
21、所述磁传感器以测试所述待测显示面板的磁场信号。
22、可选地，所述磁传感器包括隧道磁电阻传感器、扫描磁力显微镜或光泵原子磁力计。
23、可选地，所述驱动芯片上与像素点阳极连接的相邻的管脚之间的间距相等，与像素点阴极连接的相邻的管脚之间的间距相等。
24、如上所述，本专利技术提供了一种显示面板缺陷的磁场检测方法及检测装置，具有以下有益效果：
25、1、本专利技术能够在显示面板封装完成后，进行非接触的测试，减少了对显示面板的潜在损伤风险。先通过磁传感器测量所有像素点点亮时的磁场信号确定显示面板，快速的确定显示面板是否存在缺陷；再通过对像素点阵列中的每一行和每一列的磁场信号进行测试，进一步高精度、高效率的对显示面板的缺陷进行检测。
26、2、本专利技术通过确定磁场信号减小本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，所述显示面板缺陷的磁场检测方法包括：
2.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，测试所述待测显示面板上的测试行的磁场信号的步骤包括：
3.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，测试所述待测显示面板上的测试列的磁场信号的步骤包括：
4.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，所述显示面板缺陷的磁场检测方法还包括计算所述存在缺陷的行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号之间的行差值，根据所述行差值确定存在缺陷的行上的像素点产生缺陷的类型；或计算所述存在缺陷的列的磁场信号与正常发光的显示面板的对应列的磁场信号之间的列差值，根据所述列差值确定存在缺陷的列上的像素点产生缺陷的类型。
5.根据权利要求4所述的显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，确定所述待测显示面板产生缺陷的类型的方法包括：
6.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于：确定所述待测显示面板上存在缺陷的行的步骤包括：
<...【技术特征摘要】
1.一种显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，所述显示面板缺陷的磁场检测方法包括：
2.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，测试所述待测显示面板上的测试行的磁场信号的步骤包括：
3.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，测试所述待测显示面板上的测试列的磁场信号的步骤包括：
4.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，所述显示面板缺陷的磁场检测方法还包括计算所述存在缺陷的行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号之间的行差值，根据所述行差值确定存在缺陷的行上的像素点产生缺陷的类型；或计算所述存在缺陷的列的磁场信号与正常发光的显示面板的对应列的磁场信号之间的列差值，根据所述列差值确定存在缺陷的列上的像素点产生缺陷的类型。
5.根据权利要求4所述的显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，确...
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