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一种显示面板缺陷的磁场检测方法及检测装置制造方法及图纸

技术编号:41830892 阅读:44 留言:0更新日期:2024-06-27 18:15
本发明专利技术提供一种显示面板缺陷的磁场检测方法及磁场检测装置,显示面板缺陷的磁场检测方法包括:磁传感器测量得到待测显示面板上所有像素点点亮的磁场信号,将待测显示面板上所有像素点点亮的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮的磁场信号进行比较,确定待测显示面板是否存在缺陷;若待测显示面板存在缺陷,则测试待测显示面板上的测试行磁场信号和测试列磁场信号,以确定测试行和测试列是否存在缺陷;基于存在缺陷的测试行和测试列,获得存在缺陷的像素点的磁场信号。本发明专利技术能够在显示面板封装完成后,进行非接触的测试,进一步高精度、高效率的对显示面板缺陷进行检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于显示面板检测领域,涉及一种显示面板缺陷的磁场检测方法及检测装置


技术介绍

1、近些年来,显示面板行业快速发展,从而带动显示面板的质检需求急剧增加。传统的显示面板缺陷检测主要是由人眼辨别,但是人眼识别的效率低且不精准,这给生产显示面板的企业在质量和效率上带来了很大的困难。有鉴于此,采用一种新型的显示面板质量检测方式来代替人工检测是亟待解决的技术问题。近年来,许多基于计算机视觉的面板缺陷检测系统不断涌现,但各厂商利用的缺陷检测算法基本上都是比较传统的视觉方法。随着生产工艺的不断进步,检测要求随之提高,检测精度要求更加精准,对算法的实时性要求也大大提高。随着检测行业的发展,检测手段主要分为传统光学检测及传统电气检测,但是不管是传统电气检测还是传统光学检测,均存在缺陷不足,比如:

2、传统电气检测技术的精准却高效,但是在屏幕封装完成后无法检测,且资源使用率低,使用场景单一。

3、传统光学检测技术的设备昂贵,并且只能通过光学手段判断单一的缺陷类型,无法精确确定各种缺陷情况。国内众多厂商正在研发,但仍旧未能突破技术瓶颈。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种显示面板缺陷的磁场检测方法,其特征在于,所述显示面板缺陷的磁场检测方法包括:

2.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法,其特征在于,测试所述待测显示面板上的测试行的磁场信号的步骤包括:

3.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法,其特征在于,测试所述待测显示面板上的测试列的磁场信号的步骤包括:

4.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法,其特征在于,所述显示面板缺陷的磁场检测方法还包括计算所述存在缺陷的行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号之间的行差值,根据所述行差值确定存在缺陷的行上的像素点产生缺陷的类型...

【技术特征摘要】

1.一种显示面板缺陷的磁场检测方法,其特征在于,所述显示面板缺陷的磁场检测方法包括:

2.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法,其特征在于,测试所述待测显示面板上的测试行的磁场信号的步骤包括:

3.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法,其特征在于,测试所述待测显示面板上的测试列的磁场信号的步骤包括:

4.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法,其特征在于,所述显示面板缺陷的磁场检测方法还包括计算所述存在缺陷的行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号之间的行差值,根据所述行差值确定存在缺陷的行上的像素点产生缺陷的类型;或计算所述存在缺陷的列的磁场信号与正常发光的显示面板的对应列的磁场信号之间的列差值,根据所述列差值确定存在缺陷的列上的像素点产生缺陷的类型。

5.根据权利要求4所述的显示面板缺陷的磁场检测方法,其特征在于,确...

【专利技术属性】
技术研发人员:冯雪松王海林涛孔祥燕
申请(专利权)人:宁波大学
类型:发明
国别省市:

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