【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片推拉力测试，具体为一种芯片推拉力测试仪。
技术介绍
1、芯片属于电气元件类，且芯片是电路板上不可缺少的重要零部件，推拉力测试是为了评估芯片和电路板之间连接的可靠性和耐久性的测试方法，也可以确保芯片在各种应力下的稳定性和性能，所以推拉力测试是集成电路生产过程中重要的测试项目。
2、如公开号为cn210052716u，公开了一种芯片推拉力测试仪，涉及芯片生产测试
，解决了现有的芯片推拉力测试仪存在的进刀深度不易精准控制，从而导致测试结果不准确的问题，本技术包括底面为水平面的移动刀座，移动刀座下方设置有固定平台，移动刀座下段内部开设有固定腔，固定腔中设置有可水平移动的驱动块，固定腔底部中心开设有竖直的连通移动刀座底面外部的推刀槽，推刀槽中设置有推刀，推刀顶部与驱动块侧面均为斜面并相互配合，驱动块的斜面上开设有燕尾槽，推刀的斜面上设置有与燕尾槽配合的燕尾状的卡块；
3、但是上述申请中的推拉力测试仪在使用过程中还是存在一些不足之处，例如不便于对推刀的位置进行更加精准的控制，只是通过螺杆的旋转，使得驱动块...
【技术保护点】
1.一种芯片推拉力测试仪，包括底座(1)、竖隔板(2)、液压杆(3)和横板(4)，所述底座(1)的上方安装有竖隔板(2)，且竖隔板(2)的内壁通过螺栓固定有液压杆(3)，并且液压杆(3)的输出端和横板(4)相连接；
2.根据权利要求1所述的一种芯片推拉力测试仪，其特征在于：所述连接丝杆(5)和固定块(6)之间为螺纹连接，且固定块(6)和横板(4)之间为滑动连接，并且固定块(6)和横板(4)的连接端呈“T”字形。
3.根据权利要求1所述的一种芯片推拉力测试仪，其特征在于：所述第一把手(7)和横板(4)的内壁均开设有固定孔(701)，且固定孔(70...
【技术特征摘要】
1.一种芯片推拉力测试仪，包括底座(1)、竖隔板(2)、液压杆(3)和横板(4)，所述底座(1)的上方安装有竖隔板(2)，且竖隔板(2)的内壁通过螺栓固定有液压杆(3)，并且液压杆(3)的输出端和横板(4)相连接；
2.根据权利要求1所述的一种芯片推拉力测试仪，其特征在于：所述连接丝杆(5)和固定块(6)之间为螺纹连接，且固定块(6)和横板(4)之间为滑动连接，并且固定块(6)和横板(4)的连接端呈“t”字形。
3.根据权利要求1所述的一种芯片推拉力测试仪，其特征在于：所述第一把手(7)和横板(4)的内壁均开设有固定孔(701)，且固定孔(701)的内部卡合连接有插杆(702)，并且固定孔(701)在第一把手(7)的内壁等角度分布。
4.根据权利要求1所述的一种芯片推拉力测试仪，其特征在于：所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈卫国，
申请(专利权)人：惠的半导体上海有限公司，
类型：新型
国别省市：
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