一种高性能垂直结构深紫外LED器件及制备方法技术

技术编号:41824802 阅读:29 留言:0更新日期:2024-06-24 20:38
本申请提供了一种高性能垂直结构深紫外LED器件及制备方法,涉及半导体技术领域。该器件自上到下依次包括:N电极、至少一个环状外延结构、P电极、金属键合层和导电衬底。环状外延结构自上到下依次包括:N型AlGaN层、深紫外多量子阱层、电子阻挡层、P型AlGaN层和P型GaN层。其中,N型AlGaN层的上表面嵌设有一层间隔设置的椭圆体型二氧化硅小球。环状外延结构还包括孔洞,孔洞从P型GaN层延伸至N型AlGaN层,且孔洞的底部不与椭圆体型二氧化硅小球接触。本申请提供的高性能垂直结构深紫外LED器件及制备方法不仅能够改善深紫外LED晶体质量与电流分布,提高器件的光提取效率以及发光效率,还能实现大功率发射。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及半导体,具体而言,涉及一种高性能垂直结构深紫外led器件及制备方法。


技术介绍

1、深紫外led(light-emitting diode,发光二极管)具有全固态、高光效、低功耗、长寿命等优点,广泛应用于生物医学、污水处理、光解、无线通信等领域。然而,目前的深紫外led在市场应用中仍存在一些难以解决的问题。

2、深紫外led在电光转换效率、光源稳定性和寿命等方面仍存在挑战。首先,在n型algan外延层的制备过程中存在晶格失配、较大的应力和高密度的位错,这些缺陷会降低发光效率、减少器件寿命和可靠性。其次,深紫外led的光提取效率比其他波段的led要低,这是因为随着al组分的增加,tm(transverse magnetic,横磁模式)模的比例增加,光更多地被局限在器件内部,难以顺利逸出,因此深紫外led的光提取效率非常低。此外,由于高al组分p型algan的导电性较差,传统深紫外led的电流在器件中分布不均匀,导致部分区域电流过大,从而引起电流拥堵、发热增加、光输出效率降低及器件寿命降低等问题。

3、因此,针对现有深紫外le本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种高性能垂直结构深紫外LED器件,其特征在于,该器件自上到下依次包括:N电极、至少一个环状外延结构、P电极、金属键合层和导电衬底;

2.根据权利要求1所述的高性能垂直结构深紫外LED器件,其特征在于,所述P型GaN层为环状结构,所述P型GaN层包括同中心轴的第一P型GaN层和第二P型GaN层,所述第二P型GaN层位于所述第一P型GaN层的下方;

3.根据权利要求2所述的高性能垂直结构深紫外LED器件,其特征在于,所述高性能垂直结构深紫外LED器件还包括钝化层和Al反射镜;

4.根据权利要求3所述的高性能垂直结构深紫外LED器件,其特征在于,所述P...

【技术特征摘要】

1.一种高性能垂直结构深紫外led器件,其特征在于,该器件自上到下依次包括:n电极、至少一个环状外延结构、p电极、金属键合层和导电衬底;

2.根据权利要求1所述的高性能垂直结构深紫外led器件,其特征在于,所述p型gan层为环状结构,所述p型gan层包括同中心轴的第一p型gan层和第二p型gan层,所述第二p型gan层位于所述第一p型gan层的下方;

3.根据权利要求2所述的高性能垂直结构深紫外led器件,其特征在于,所述高性能垂直结构深紫外led器件还包括钝化层和al反射镜;

4.根据权利要求3所述的高性能垂直结构深紫外led器件,其特征在于,所述p电极的上表面与所述第二p型gan层相接触,所述p电极的下表面与所述al反射镜相接触,所述al反射镜与所述金属键合层相接触。

5.根据权利要求1所述的高性能垂直结构深紫外led器件,其特征在于,所述环状外延结构的外侧壁从上至下向内倾斜,所述环状外延结构的内侧壁从上至下向外倾斜...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵捷刘宁炀谭起龙李祈昕曾昭烩梁田泓陈志涛
申请(专利权)人:广东省科学院半导体研究所
类型:发明
国别省市:

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