【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，具体而言，涉及一种验证芯片测试完备性的方法及装置、电子设备和存储介质。
技术介绍
1、测试用例是芯片测试过程中的一个关键组成部分，测试用例定义了如何对特定的芯片功能或需求进行测试验证。
2、在芯片测试过程中，测试工程师根据芯片规格书将测试需求细化分解为多个需要测试验证的测试点。测试工程师根据测试点描述列表生成可以覆盖所有测试点的测试用例列表，从而可以根据测试用例列表对芯片进行完备性功能或需求测试。
3、对于具有复杂功能的芯片，往往需要多人协同的方式对其进行测试。但本专利技术的专利技术人发现，在复杂的测试需求下，测试过程中会存在多层次的技术交叉，而会较难确定每个测试工程师所负责的测试用例的测试点覆盖情况以及测试用例的状态。专利技术人认为，如此会影响芯片的测试完备性以及测试准确性。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种验证芯片测试完备性的方法及装置、电子设备和存储介质，用于复杂结构的芯片在测试验证过程中的测试点覆盖情况以及测试用例状态的完备性验
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【技术保护点】
1.一种验证芯片测试完备性的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设字段信息包括测试分区字段；
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设字段信息包括运行状态字段；
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设字段信息包括优先级字段；
5.一种验证芯片测试完备性的装置，其特征在于，包括：
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述预设字段信息包括测试分区字段；
7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述预设字段信息包括运行状态字段；
...【技术特征摘要】
1.一种验证芯片测试完备性的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设字段信息包括测试分区字段；
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设字段信息包括运行状态字段；
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设字段信息包括优先级字段；
5.一种验证芯片测试完备性的装置，其特征在于，包括：
6.根据权利要求5所...
【专利技术属性】
技术研发人员：李远超，蔡权雄，牛昕宇，
申请(专利权)人：深圳鲲云信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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