IGBT模块状态的检测方法、装置、存储介质和处理器制造方法及图纸

技术编号:41810347 阅读:18 留言:0更新日期:2024-06-24 20:29
本申请提供了一种IGBT模块状态的检测方法、装置、存储介质和处理器。该方法包括:获取待测变化率,待测变化率为待测IGBT模块的饱和压降随待测IGBT模块的集电极电流变化的速率;在待测变化率满足第一预定条件的情况下,确定待测IGBT模块处于失效状态,在待测变化率不满足第一预定条件且满足第二预定条件的情况下,确定待测IGBT模块处于亚健康状态,在待测变化率不满足第一预定条件且不满足第二预定条件的情况下,确定待测IGBT模块处于健康状态。该方法解决了现有技术中没有考虑到饱和电压不仅受键合线脱落的影响,也会受集电极电流的影响,导致IGBT模块状态检测准确度较低的问题。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及igbt,具体而言,涉及一种igbt模块状态的检测方法、igbt模块状态的检测装置、存储介质、处理器和电子设备。


技术介绍

1、目前针对igbt模块健康状态监测最常用的方法是基于饱和压降的监测方法,当igbt模块的饱和压降增大5%即认为igbt模块失效。

2、现有技术中的igbt模块键合线的状态监测方法的缺点如下:

3、如图1所示,在饱和区内,igbt模块的饱和压降vce随集电极电流ic正相关,而现有技术中没有考虑到饱和电压不仅受键合线脱落的影响,也会受注入电流的影响,导致igbt模块状态检测准确度较低;

4、如图1所示,igbt模块的饱和压降vce与结温呈正相关,而现有技术中没有考虑到饱和电压不仅受键合线脱落的影响,也会受结温的影响,导致igbt模块状态检测准确度较低;

5、无法确定脱落的键合线的数量。


技术实现思路

1、本申请的主要目的在于提供一种igbt模块状态的检测方法、igbt模块状态的检测装置、存储介质、处理器和电子设备,以至少解决现有技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种IGBT模块状态的检测方法,其征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在获取待测变化率之后,所述方法还包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在获取待测变化率之后,所述方法还包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在根据所有的所述检测序列和预定数量,确定所述第一预定值和所述第二预定值之前,所述方法还包括:

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在根据公式A'=A+k×(TB-TC),对所有组的所述第一检测变化率进行处理,得到多组第二检测变化率之前,所述方法还包括:

6.根...

【技术特征摘要】

1.一种igbt模块状态的检测方法,其征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在获取待测变化率之后,所述方法还包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在获取待测变化率之后,所述方法还包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在根据所有的所述检测序列和预定数量,确定所述第一预定值和所述第二预定值之前,所述方法还包括:

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在根据公式a'=a+k×(tb-tc),对所有组的所述第一检测变化率进行处理,得到多组第二检测变化率之前,所述方法还包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取待测变化率,包括:

7.一种ig...

【专利技术属性】
技术研发人员:王俊波李新张殷唐琪欧繁陈道品李国伟赵伟范心明董镝梁年柏王智娇曾烨王云飞何思捷
申请(专利权)人:广东电网有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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