光电传感器校准检测方法、装置、光电传感器及存储介质制造方法及图纸

技术编号:41801612 阅读:38 留言:0更新日期:2024-06-24 20:23
本申请涉及光电传感器技术领域,提供了一种光电传感器校准检测方法、装置、光电传感器及存储介质。本申请通过读取校准接口的信号,并根据所述信号设置校准标识位的值;基于校准标识值确定校准阈值,并由此计算应差值;控制光电传感器发射一次脉冲信号;获取接收信号,并在检测到发射标识位为预设值时,对接收信号进行采样处理,得到采样信号集合;从采样信号集合中获取多个采样信号,得到采样信号组;对采样信号组进行滤波处理,得到滤波信号;最后基于滤波信号、校准阈值和应差值,对光电传感器进行光电感应检测。本申请通过在出厂前对光电传感器进行校准检测,可以保证光电传感器的测量精度。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及光电传感器,尤其是涉及一种光电传感器校准检测方法、装置、光电传感器及存储介质


技术介绍

1、光电传感器是以光电器件作为转换元件的传感器,它可用于检测直接引起光量变化的非电物理量,例如目标物体的距离检测。在光电传感器生产过程中,由于光电传感器的材质不同,光线在不同介质中传播时可能发生折射或反射,从而改变了光线到达传感器的方式。例如灌胶类光电传感器是一种用灌胶工艺制造的贴片式光电传感器,而光线在胶水中传播的速度会受到胶水分子的影响,胶水对光线有折射作用,导致在使用灌胶后的成品进行检测时,检测结果会存在误差,不够精准。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请提供一种光电传感器校准检测方法、装置、光电传感器及存储介质,以解决成品的光电传感器检测的感应距离会受到光电传感器材质影响的技术问题。

2、本申请的第一方面提供一种光电传感器校准检测方法,所述方法包括:

3、读取校准接口的校准信号,并根据所述校准信号设置校准标识位的校准标识值,所述校准信号为所述光电传感器处于半成品状态下读取的;...

【技术保护点】

1.一种光电传感器校准检测方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的光电传感器校准检测方法,其特征在于,所述根据所述校准信号设置校准标识位的校准标识值包括:

3.根据权利要求2所述的光电传感器校准检测方法,其特征在于,所述基于所述校准标识值确定校准阈值包括:

4.根据权利要求3所述的光电传感器校准检测方法,其特征在于,所述基于所述滤波信号、所述校准阈值及所述应差值对所述光电传感器进行光电感应检测之前,所述方法还包括:

5.根据权利要求4所述的光电传感器校准检测方法,其特征在于,所述基于所述采样信号组判断所述光电传感器是否受到...

【技术特征摘要】

1.一种光电传感器校准检测方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的光电传感器校准检测方法,其特征在于,所述根据所述校准信号设置校准标识位的校准标识值包括:

3.根据权利要求2所述的光电传感器校准检测方法,其特征在于,所述基于所述校准标识值确定校准阈值包括:

4.根据权利要求3所述的光电传感器校准检测方法,其特征在于,所述基于所述滤波信号、所述校准阈值及所述应差值对所述光电传感器进行光电感应检测之前,所述方法还包括:

5.根据权利要求4所述的光电传感器校准检测方法,其特征在于,所述基于所述采样信号组判断所述光电传感器是否受到干扰包括:

6.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:龚雪松梁焕霜邓义风
申请(专利权)人:深圳市华怡丰科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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