一种温度测量装置及温度测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种温度测量装置及温度测量方法。该温度测量装置包括：光子对生成模块、色散结构、第一单光子探测器、第二单光子探测器、计数模块和处理模块；光子对生成模块生成光子对；第一光子通过色散结构传输至第一单光子探测器，第二光子通过第二光路传输至第二单光子探测器；第一单光子探测器产生第一电信号；第二单光子探测器产生第二电信号；计数模块根据第一电信号和第二电信号确定光子对的延时时间‑光子计数的谱线；处理模块根据光子对的延时时间‑光子计数的谱线和预设延时时间‑温度曲线确定待测环境温度。本发明专利技术实施例的技术方案，通过设置温度测量装置，解决测量精度受标准量子极限或散粒噪声极限的限制，实现对温度的高精度测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及温度测量，尤其涉及一种温度测量装置及温度测量方法。

技术介绍

1、温度的传感和测量方式有很多种形式，包括热电偶和热敏电阻式等，近年来采用光纤作为传感载体的光纤温度传感器，由于体积小、抗电磁干扰、耐腐蚀、测量精度高等优点而在军事、航空航天、生物医学、建筑施工等领域得到广泛应用。光纤温度传感器的传感机理通常为受激荧光、干涉、光吸收、热致光辐射、光散射等，最常用的光纤温度传感器类型有分布式温度传感器、干涉型温度传感器和荧光温度传感器等。根据光脉冲受被测对象的调制形式，光纤温度传感器可以分为强度调制型光纤传感器、偏振调制光纤传感器、频率调制光纤传感器和相位调制光纤传感器。

2、近年来光纤温度传感器不断朝着高灵敏度、高机械强度、高探测精度、大动态范围和智能化的方向发展。但是现有光纤测温技术中的精度受限于标准量子极限或散粒噪声极限，使得测量精度不高，不能很好地满足人们对高精度测温服务的需求。

技术实现思路

1、本专利技术提供了一种温度测量装置及温度测量方法，以解决测量精度受标准量子极限或散粒噪声本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种温度测量装置，其特征在于，包括：光子对生成模块、色散结构、第一单光子探测器、第二单光子探测器、计数模块和处理模块；

2.根据权利要求1所述的温度测量装置，其特征在于，还包括：温度控制模块；

3.根据权利要求1所述的温度测量装置，其特征在于，所述光子对生成模块包括：激光器、非线性晶体和偏振分束器；

4.根据权利要求1-3任一项所述的温度测量装置，其特征在于，所述计数模块包括时间数字单光子计数器。

5.根据权利要求1所述的温度测量装置，其特征在于，所述色散结构包括色散波导或色散光纤。

6.一种温度测量方法，由权利要求1-5任...

【技术特征摘要】

1.一种温度测量装置，其特征在于，包括：光子对生成模块、色散结构、第一单光子探测器、第二单光子探测器、计数模块和处理模块；

2.根据权利要求1所述的温度测量装置，其特征在于，还包括：温度控制模块；

3.根据权利要求1所述的温度测量装置，其特征在于，所述光子对生成模块包括：激光器、非线性晶体和偏振分束器；

4.根据权利要求1-3任一项所述的温度测量装置，其特征在于，所述计数模块包括时间数字单光子计数器。

5.根据权利要求1所述的温度测量装置，其特征在于，所述色散结构包括色散波导或色散光纤。

6.一种温度测量方法，由权利要求1-5任一项所述的温度测量装置执行，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵远洋，安雪碧，周志伟，
申请(专利权)人：合肥硅臻芯片技术有限公司，
类型：发明
国别省市：