一种用于X射线荧光光谱分析的熔融制样装置制造方法及图纸

本技术提供一种用于X射线荧光光谱分析的熔融制样装置，包括：机架、摇摆倾倒机构、电控箱、高频感应设备；在本申请中，电控箱对整个装置工作状态进行控制，高频感应设备用以给加热提供交变电流，主要通过在立方体的机架内部，设置有摇摆倾倒机构，能够使得样品在通过感应线圈加热过程中实现自动摇摆均匀，并且自动倾倒浇筑，同时还通过设置有温度检测装置精准控制加热温度；有效的解决了高频感应加热式熔样装置，在加热过程中温度难以精确控制，样品混合不均匀，且样品成型需要手动倾倒，导致制出的样品有气泡、毛边、碎裂等缺陷。提高了样品制备的质量和制样效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及熔融制样装置，具体为一种用于x射线荧光光谱分析的熔融制样装置。

技术介绍

1、x射线荧光光谱分析是一种用于化学元素定性和定量分析的仪器分析方法。其可以分析的样品的物理形态可以是：固体(粉末、块样)、液体(水、油、泥浆)。然而由于固体样品是不均匀的，x射线荧光光谱分析前需要对该类样品做前处理。通常是将固体研磨成粉末，再采用直接分析、压片制样、熔融制样的方法。相对于直接分析和压片制样，熔融制样消除了粉末样品中的颗粒效应和矿物效应，提高了分析结果的准确性。目前通常采用的熔融制样方式有：燃气加热、电阻辐射加热和高频感应加热；制作方法为预氧化、加热熔化、摆动摇匀、浇铸成型、冷却等流程。

2、高频感应加热式熔样，其原理是通过高频感应设备产生的高频电流通过感应线圈后，形成交变磁场，磁束穿透位于感应线圈内部的坩埚，坩埚内部与加热电流的反方向出现涡电流使坩埚温度急剧升高，从而使置放在坩埚内的样品高温熔融。

3、但是，目前高频感应加热式熔融样品在当前使用相对较少，高频感应加热过程温度难以精确控制，样品混合不均匀，且样品成型需要手动倾倒、制出的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于X射线荧光光谱分析的熔融制样装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种用于X射线荧光光谱分析的熔融制样装置，其特征在于，所述摇摆倾倒机构包括：转动盘、轴、电机、安装板、调整板、第一传动轮、传动单元、第二传动轮、陶瓷轴承、锁紧螺母；

3.根据权利要求2所述的一种用于X射线荧光光谱分析的熔融制样装置，其特征在于，所述摇摆倾倒机构还包括：光电传感器；所述光电传感器设置于所述转动盘背面，用于检测并控制所述转动盘旋转角度。

4.根据权利要求1所述的一种用于X射线荧光光谱分析的熔融制样装置，其特征在于，所述高频感应设备设置于所述机架内部后端...

【技术特征摘要】

1.一种用于x射线荧光光谱分析的熔融制样装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种用于x射线荧光光谱分析的熔融制样装置，其特征在于，所述摇摆倾倒机构包括：转动盘、轴、电机、安装板、调整板、第一传动轮、传动单元、第二传动轮、陶瓷轴承、锁紧螺母；

3.根据权利要求2所述的一种用于x射线荧光光谱分析的熔融制样装置，其特征在于，所述摇摆倾倒机构还包括：光电传感器；所述光电传感器设置于所述转动盘背面，用于检测并控制所述转动盘旋转角度。

4.根据权利要求1所述的一种用于x射线荧光光谱分析的熔融制样装置，其特征在于，所述高频感应设备设置于所述机架内部后端，所述高频感应设备表面还设置有进水口和出水口，通过所述进水口和所述出水口连接外置的工业冷水机，所述工业冷水机为高频感应设备提供循环冷却水。

5.根据权利要求1所述的一种用于x射线荧光光谱分析的熔融制样装置，其特征在于，所述高频感应设备设置于所述机架外侧面，所述高频感应设备表面还设置有进水口和出水口，通过所述进水口和所述出水口连接外置的工业冷水机，所述工业冷水机为高频感应设备提供循环冷却水。...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴桂容，陈嘉杰，
申请(专利权)人：长沙微谱科技有限公司，
类型：新型
国别省市：