光散射成像采集系统和光散射图像重建方法技术方案

技术编号:41758547 阅读:30 留言:0更新日期:2024-06-21 21:40
本发明专利技术公开了一种光散射成像采集系统和光散射图像重建方法。光散射成像采集系统包括光源模块、散射片和成像模块,光源模块用于从不同角度对目标物照明,散射片用于对通过目标物的照明光进行散射,成像模块用于对散射片产生的散射光线进行成像。在采集图像过程中,使用不同角度的光照照明目标物,可以在成像系统的数值孔径不变的情况下提升成像分辨率,在图像重建时考虑了散射片对成像过程的影响,有助于实现透过散射介质的成像,在成像系统所提供的视场下获得相对其数值孔径所能带来的更高的分辨率,整个成像过程中无需进行侵入式标定,有利于提高成像效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光学成像,具体地讲,涉及一种光散射成像采集系统和光散射图像重建方法


技术介绍

1、光线在散射介质中发生散射,导致传统的光学成像系统无法产生清晰图像,而只能观察到散斑。散射成像技术旨在利用这些散斑信息来还原目标物体的影像,这一技术在医学、自动驾驶、国防安全等领域具有重要的应用价值,因此如何克服散射影响实现清晰成像是本领域面对的共同难题。目前常见的散射成像技术主要有波前调制、反卷积成像、相关成像三种方案。波前调制需要进行侵入式标定,其需要在光路中插入空间光调制器,检测速度慢,且受到光学记忆效应范围限制。反卷积成像也需要进行侵入式标定,需要测量系统的psf,该侵入式标定要求精度高,且受到光学记忆效应范围限制。相关成像虽然不用进行侵入式标定,但无法应对复杂目标,分辨率低(对高分辨细节的物体无法有效恢复),且受到光学记忆效应限制。


技术实现思路

1、本专利技术解决的技术问题是:如何提供一种无需进行侵入性标定且能提升分辨率的透过散射介质的成像系统和成像方法。

2、本申请公开了一种光散射成像采集本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光散射成像采集系统,其特征在于,所述光散射成像采集系统包括:

2.根据权利要求1所述的光散射成像采集系统,其特征在于,所述光源模块包括光源和弧形支架,所述光源活动连接于所述弧形支架上以从不同角度对目标物照明。

3.根据权利要求2所述的光散射成像采集系统,其特征在于,所述弧形支架为弧形滑轨,所述光源滑动连接于所述弧形滑轨上以从不同角度对目标物照明。

4.根据权利要求3所述的光散射成像采集系统,其特征在于,所述弧形滑轨为半圆形滑轨,所述半圆形滑轨的对称轴与所述成像模块的光轴重合,所述半圆形滑轨的圆心与所述目标物重合。

>5.根据权利要求4...

【技术特征摘要】

1.一种光散射成像采集系统,其特征在于,所述光散射成像采集系统包括:

2.根据权利要求1所述的光散射成像采集系统,其特征在于,所述光源模块包括光源和弧形支架,所述光源活动连接于所述弧形支架上以从不同角度对目标物照明。

3.根据权利要求2所述的光散射成像采集系统,其特征在于,所述弧形支架为弧形滑轨,所述光源滑动连接于所述弧形滑轨上以从不同角度对目标物照明。

4.根据权利要求3所述的光散射成像采集系统,其特征在于,所述弧形滑轨为半圆形滑轨,所述半圆形滑轨的对称轴与所述成像模块的光轴重合,所述半圆形滑轨的圆心与所述目标物重合。

5.根据权利要求4所述的光散射成...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈晗冰黄伟
申请(专利权)人:中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1