【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及精密测量，具体涉及一种等离子体团电子密度和电子温度空间分布测量装置及方法。
技术介绍
1、等离子体是继固体、液体、气体之后的第四种特质形态，目前主要应用于分解气态污染物，纺织面料表面改性，环境杀菌消毒等方面，甚至还可以用于微观物质演化的宏观模拟研究。等离子团是从中性物质团经高压电离得到的，而不同中性物质在不同电压下的电子密度和电子温度是衡量等离子体团电离程度的重要指标。
2、通常，电子密度测量主要有朗缪尔探针法和光谱仪法。朗缪尔探针法需将导电探针深入离子体团，通过静电电位变化得到不同测量点的空间电势分布，但探针本身显然对等离子体团电子分布易造成影响，因此一般用于标定试验结果或定位监测而不是大规模扫描测量。光谱仪法是基于等离子体团辉光利用物质方程通过不同波长(通道)下光强度解算出电子密度和电子温度，但光谱仪一般为点测量因此仅能得到等离子体团电子密度和电子温度的整体平均值。
3、其中，光谱仪的一种改进方法可以利用面阵相机以转轮加载不同滤波片的方式，得到不同通道下离子体团的二维分布，代入物质方程解算出电子...
【技术保护点】
1.一种等离子体团电子密度和电子温度空间分布测量装置，其特征在于，包括：准直光具组件(1)、分色片(2)、第一成像光具组件(3)、第二成像光具组件(4)和处理器(5)；
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述处理器(5)具体用于：
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述准直光具组件(1)包括：第一准直透镜(11)和第二准直透镜(12)；所述第一准直透镜(11)和所述第二准直透镜(12)同轴设置，所述第一准直透镜(11)的焦距与所述第二准直透镜(12)的焦距不同。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一成像...
【技术特征摘要】
1.一种等离子体团电子密度和电子温度空间分布测量装置，其特征在于，包括：准直光具组件(1)、分色片(2)、第一成像光具组件(3)、第二成像光具组件(4)和处理器(5)；
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述处理器(5)具体用于：
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述准直光具组件(1)包括：第一准直透镜(11)和第二准直透镜(12)；所述第一准直透镜(11)和所述第二准直透镜(12)同轴设置，所述第一准直透镜(11)的焦距与所述第二准直透镜(12)的焦距不同。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一成像光具组件(3)包括：第一成像透镜(31)和第一相机(32)，所述第一成像透镜(31)和所述第一相机(32)同轴设置；
5.根据权利要求4所述的装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：宋伟，张立宪，田兴华，张璐，
申请(专利权)人：中国科学院空间应用工程与技术中心，
类型：发明
国别省市：
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