X射线硬化校正方法、存储介质及电子终端技术

技术编号:41748166 阅读:25 留言:0更新日期:2024-06-21 21:33
本申请公开一种X射线硬化校正方法、存储介质及电子终端,X射线硬化校正方法包括:采集CT探测器在未发出X射线时检测的原始数据、X射线穿透空气时的原始空气曝光数据和穿透模体装置时的原始模体曝光数据;对原始模体曝光数据进行offset校正和空气校准,计算原始投影数据;采用滤波反投影算法对原始投影数据重建获得原始图像数据;理想化处理获得理想化图像数据;并正投影为理想化投影数据;将每个CT探测器对应所有视图的原始投影数据与理想化投影数据数据拟合,得到对应的射线硬化校正系数;基于射线硬化校正系数对扫描目标进行射线硬化系数补偿,获得校正图像。本申请可消除由于射线硬化现象导致的伪影以提高图像质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及医学图像处理,具体涉及一种x射线硬化校正方法、存储介质及电子终端。


技术介绍

1、x射线计算机体层摄影设备,即ct(computed tomography),其基本原理是利用不同的物质对于x射线吸收能力不同的特性,获取不同被扫描物体内部组织对x射线吸收系数数据,使用计算机处理并重建出图像,其中产生x射线的部件为x射线管组件。

2、当ct指令x射线管产生指定单能量谱的x射线时,实际产生的x射线能谱能量分布广泛,具有连续谱特性,即在产生指定单能谱能量强的x射线的同时,不可避免的伴有能量弱的x射线发出。当这种混合能谱的x射线穿过人体或其他物质时,能量较低的x射线在透射物质时更容易被吸收,穿透能力弱;而较高能量的x射线则衰减系数较低,穿透能力强。

3、由于低能量x射线的被吸收率比较高,x射线穿透被扫描物体后剩余的高能量x射线比例增加,使得射线的平均能量升高,射线被描述为变硬,因此称之为射线硬化现象。射线硬化现象会导致射线在继续穿经其他组织或结构时,衰减系数发生变化。而衰减系数与射线能量密切相关,硬化的射线在穿经不同组织时,其衰本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种X射线硬化校正方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的X射线硬化校正方法,其特征在于,步骤S2中,所述计算原始投影数据prj_phantom(ic,ir,iv),计算方法如下:

3.如权利要求1所述的X射线硬化校正方法,其特征在于,步骤S4中,所述对原始图像数据img_phantom(ix,iy)进行理想化处理,具体如下:

4.如权利要求1所述的X射线硬化校正方法,其特征在于,步骤S7中,基于获得的射线硬化校正系数coefbhc(ic,ir)n,对扫描目标进行射线硬化系数补偿,获得校正图像,具体如下:

5.一种计算机...

【技术特征摘要】

1.一种x射线硬化校正方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的x射线硬化校正方法,其特征在于,步骤s2中,所述计算原始投影数据prj_phantom(ic,ir,iv),计算方法如下:

3.如权利要求1所述的x射线硬化校正方法,其特征在于,步骤s4中,所述对原始图像数据img_phantom(ix,iy)进行理想化处理,具体如下:

4.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨理应峥嵘
申请(专利权)人:苏州波影医疗技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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