【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及偏压控制，具体涉及一种光子计数探测器偏压产生及控制方法及系统。
技术介绍
1、对于ct用光子计数探测器(简称为pcd探测器，其晶体材料典型为碲锌镉化合物，即czt)，其原理是x射线光子被晶体吸收时，会在晶体中产生大量的电子-空穴对，此时对晶体施加偏压产生电场，能够迅速的将这些电子和空穴分别导向正负电极，通过传感器检测电极上的电荷数量，实现光-电信号的转换和数据获取。
2、所加偏压通常可达到1kv，采用专用电源产生偏压，增加设备成本，设计复杂度，故障率；不易生产，装配与维护。
技术实现思路
1、本专利技术第一方面提出一种光子计数探测器偏压产生及控制方法，包括以下步骤：
2、s1，输入交流电，将交流电经多方式处理输出高电压；
3、s2，将高电压输入偏压电压调节模块，并获取偏压控制参数；
4、s3，控制驱动器基于输入的偏压控制参数，生成驱动元件的驱动方式和驱动程度；
5、s4，基于驱动方式与驱动程度控制电压调整元件对高电压...
【技术保护点】
1.一种光子计数探测器偏压产生及控制方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的光子计数探测器偏压产生及控制方法，其特征在于，步骤S1中，交流电处理方式如下：
3.如权利要求2所述的光子计数探测器偏压产生及控制方法，其特征在于，步骤S2中偏压控制参数包括曝光电压，曝光电流，探测器漏电流，探测器晶体厚度，扫描部位，环境温湿度与大气压力。
4.如权利要求1所述的光子计数探测器偏压产生及控制方法，其特征在于，步骤S4中期望的偏压电压计算如下：
5.如权利要求1所述的光子计数探测器偏压产生及控制方法，其特征在于，偏压...
【技术特征摘要】
1.一种光子计数探测器偏压产生及控制方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的光子计数探测器偏压产生及控制方法，其特征在于，步骤s1中，交流电处理方式如下：
3.如权利要求2所述的光子计数探测器偏压产生及控制方法，其特征在于，步骤s2中偏压控制参数包括曝光电压，曝光电流，探测器漏电流，探测器晶体厚度，扫描部位，环境温湿度与大气压力。
4.如权利要求1所述的光子计数探测器偏压产生及控制方法，其特征在于，步骤s4中期望的偏压电压计算如下：
5.如权利要求1所述的光子计数探测器偏压产生及控制方法，其特征在于，偏压电压控制步骤如...
【专利技术属性】
技术研发人员：李智海，刘猛，
申请(专利权)人：苏州波影医疗技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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