一种多传感器光电设备光轴平行性免标校装置制造方法及图纸

技术编号:41737315 阅读:37 留言:0更新日期:2024-06-19 12:56
本发明专利技术属于光电技术领域,公开了一种多传感器光电设备光轴平行性免标校装置,调整基座位置使单筒方管前置镜中十字分划与抛物面反射镜中校轴十字靶板十字分划重合;调整瞄准镜位置使瞄准镜中十字分划与抛物面反射镜中校轴十字靶板十字分划重合,完成标校。本发明专利技术为多传感器光电设备在不具备实验室标校条件的工作场地,实现快速更换相同光电传感器后不需要重新标校各光电传感器之间的光轴平行性,而且更换后各光电传感器之间的光轴平行性精度不下降,不影响使用性能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光电,涉及一种多传感器光电设备不同光轴平行性免标校装置。


技术介绍

1、现代军用、民用光电装备经常采用多传感器光电转台作为观测平台,光电转台中一般都含有电视、红外成像仪、激光测距机等多个光电传感器,能够完成对目标的搜索、瞄准和激光测距等功能,由于是集多种光学仪器于一体,每个转台中必然会存在多个光电传感器的多个光轴。

2、在光电转台的实际使用过程中,目标位置信息的准确性主要取决于光电系统中的电视观瞄视场轴、红外观瞄视场轴、激光测距光轴等光轴的平行性。因此,对于高精度的光电搜索、观察和测量系统,各光电传感器光轴之间的平行性在保证光电系统目标测量指示准确度方面起着至关重要的作用。常见的光轴平行性标校方法有投影靶法、大口径平行光管法、小口径平行光管法和五棱镜法等,这些方法各有优缺点,基本都要在实验室、基地等地方才可以标校光轴。在野外或不具备标校条件的地方,更换光电传感器后不标校光轴就无法保证各光轴平行性。


技术实现思路

1、(一)专利技术目的

2、本专利技术的目的是:提供一种多传本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种多传感器光电设备光轴平行性免标校装置,其特征在于,包括:抛物面反射镜(1)、基座(2)、标轴校验基准底板(3)、单筒方管前置镜(4)、瞄准镜(5)及校轴十字靶板(6);校轴十字靶板(6)安装在抛物面反射镜(1)的焦点处,把基座(2)架设在抛物面反射镜(1)的入射口径范围之内,标轴校验基准底板(3)布置在基座(2)上,单筒方管前置镜(4)布置在标轴校验基准底板(3)上,调整基座2位置使单筒方管前置镜(4)中十字分划与抛物面反射镜(1)中校轴十字靶板(6)十字分划重合;瞄准镜(5)布置在基座(2)上,调整瞄准镜(5)位置使瞄准镜(5)中十字分划与抛物面反射镜(1)中校轴十字靶板(6)...

【技术特征摘要】

1.一种多传感器光电设备光轴平行性免标校装置,其特征在于,包括:抛物面反射镜(1)、基座(2)、标轴校验基准底板(3)、单筒方管前置镜(4)、瞄准镜(5)及校轴十字靶板(6);校轴十字靶板(6)安装在抛物面反射镜(1)的焦点处,把基座(2)架设在抛物面反射镜(1)的入射口径范围之内,标轴校验基准底板(3)布置在基座(2)上,单筒方管前置镜(4)布置在标轴校验基准底板(3)上,调整基座2位置使单筒方管前置镜(4)中十字分划与抛物面反射镜(1)中校轴十字靶板(6)十字分划重合;瞄准镜(5)布置在基座(2)上,调整瞄准镜(5)位置使瞄准镜(5)中十字分划与抛物面反射镜(1)中校轴十字靶板(6)十字分划重合;调整完成后去掉标轴校验基准底板(3)和单筒方管前置镜(4),则完成多传感器光电设备光轴免标校装置装调。

2.如权利要求1所述的多传感器光电设备光轴平行性免标校装置,其特征在于,所述基座(2)为长方形板状,其四个直角拐角位置均设置为定位基准平面,瞄准镜(5)布置在其中一个定位基准平面上。

3.如权利要求2所述的多传感器光电设备光轴平行性免标校装置,其特征在于,每个所述定位基准平面上设置定位销孔(2-1)和螺纹沉孔。

4.如权利要求3所述的多传感器光电设备光轴平行性免标校装置,其特征在于,所述标轴校验基准底板(3)上设置有定位圆柱销孔(3-1),与基座(2)上的定位销孔(2-1)对齐,并用螺钉紧固。

5.如权利要求4所述的多传感器光电设备光轴平行性免标校装置,其特征在于,所述标轴校验基准底板(3)上设置有相...

【专利技术属性】
技术研发人员:王毅孔鹏张卫国刘万刚董期林伊兴国高健健周根东吴英春惠进
申请(专利权)人:西安应用光学研究所
类型:发明
国别省市:

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