【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子线路检测相关，尤其涉及一种基于fpga的开尔文连接故障检测设备及方法。
技术介绍
1、开尔文连接是一种四线制(four-terminal)的连接方式，常用于电阻阻抗精确测量、设备电源精准供电和设备精密测量等场景，其主要特点是通过两对连接线分别用于驱动电压/电流和测量电压，以消除连接线的电阻对测量结果的影响。
2、这种连接方式被广泛应用在半导体测试行业中，尤其是在自动测试设备(ate)和自动测试系统(ats)中，原因如下：
3、1、在高精度测量中，测试引线的电阻可能会对测量结果产生显著影响；开尔文连接可以最大程度地消除这种影响，提高测量的准确性和精度。
4、2、精准的电阻测量对于质量控制至关重要，开尔文连接可以提供更可靠、更一致的测量结果，有助于确保产品输出的质量和一致性。
5、3、开尔文连接能够减少外部干扰对测量的影响，可以得到更为清晰和可靠的测量结果。
6、在半导体行业中，芯片测试是生产制造流程中关键的一环，自动测试设备(ate)和自动测试系统(ats)是环...
【技术保护点】
1.一种基于FPGA的开尔文连接故障检测设备，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的一种基于FPGA的开尔文连接故障检测设备，其特征在于，在所述FPGA模块内设置有TDR检测模块，所述TDR检测模块包括：
3.如权利要求1所述的一种基于FPGA的开尔文连接故障检测设备，其特征在于，在所述FPGA模块内设置有故障检测逻辑控制模块，用于状态控制与调度、管理模块的状态转换、启动和终止操作，对信号处理模块进行控制和协调，确保整个检测流程的顺利进行。
4.如权利要求1所述的一种基于FPGA的开尔文连接故障检测设备，其特征在于，在所述FPG...
【技术特征摘要】
1.一种基于fpga的开尔文连接故障检测设备，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的一种基于fpga的开尔文连接故障检测设备，其特征在于，在所述fpga模块内设置有tdr检测模块，所述tdr检测模块包括：
3.如权利要求1所述的一种基于fpga的开尔文连接故障检测设备，其特征在于，在所述fpga模块内设置有故障检测逻辑控制模块，用于状态控制与调度、管理模块的状态转换、启动和终止操作，对信号处理模块进行控制和协调，确保整个检测流程的顺利进行。
4.如权利要求1所述的一种基于fpga的开尔文连接故障检测设备，其特征在于，在所述fpga模块内设置有检测数据处理模块，用于对采集到的数据进行处理和分析，对从tdr检测模块获取的原始数据进行滤波、校正或预处理，对处理后的数据进行分析和诊断，根据用户配置或预设的检测逻辑和条件识别故障或异常。
5.如权利要求1所述的一种基于fpga的开尔文连接故障检测设备，其特征在于，在所述fpga模块内设置有外设驱动模块，用于驱动用户交互模块的各种设备，使设备能够通过外部接口与其他设备或系统进行通信和控制。
<...【专利技术属性】
技术研发人员：王舜章，
申请(专利权)人：上海铭剑电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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