一种样品腔防辐射结构制造技术

技术编号:41717251 阅读:29 留言:0更新日期:2024-06-19 12:44
本技术公开了一种样品腔防辐射结构,包括样品腔测试平台、样品腔测试门、样品腔测试后框,所述样品腔测试后框的前侧通过铰链与样品腔测试门铰接,所述样品腔测试后框和样品腔测试平台固定连接。本技术采用放置凸台和铅皮固定罩来全方位防护的,在使用时,将样品放置在样品固定座中,然后盖上样品腔测试门,此时铅皮固定罩罩住放置凸台,通过周边防护铅皮和顶部防护铅皮来防止辐射外泄,满足高强度射线、多方位辐射的防护需求,同时结构相对简单,测试门重量适宜,便于用户使用。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及x荧光光谱仪,具体涉及一种样品腔防辐射结构


技术介绍

1、近年来,随着科技的进步,人们对快速化、无损化、全自动分析微观组织结构及元素成分的要求与日俱增。而微区能量色散x射线荧光光谱分析具有快速、精准、无损检测等优点,已广泛应用于材料科学、生物学、环境科学等领域。

2、目前,市面上大多数x荧光光谱仪样品腔在防辐射设计上结构方式比较单一,只能针对准直小孔单向辐射进行防护。对于日益增长的矿物成分含量等检测需求,准直孔径需要相应增大,辐射溢出的方位也越来越复杂,对防护的需求越来越苛刻;现有技术中防护部分结构采用整体腔全封方式进行处理,这会导致样品腔测试门过重,使用非常不便。

3、因此,如何提供一种样品腔防辐射结构,以解决现有技术所存在的问题,对其应用具有重要意义。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请的目的在于提供一种样品腔防辐射结构,以解决现有技术中光谱仪防护部分结构采用整体腔全封方式进行处理,这会导致样品腔测试门过重,使用非常不便问题。

2、为实现上述目的,本技术提供本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种样品腔防辐射结构,其特征在于:包括样品腔测试平台(1)、样品腔测试门(2)、样品腔测试后框(3),所述样品腔测试后框(3)的前侧通过铰链(31)与样品腔测试门(2)铰接,所述样品腔测试后框(3)和样品腔测试平台(1)固定连接,所述样品腔测试门(2)包括把手(21)、铅皮固定罩(22)、周边防护铅皮(23)、顶部防护铅皮(24)、固定罩固定孔(25)和铅皮屏蔽底板(26),所述周边防护铅皮(23)粘附于铅皮固定罩(22)的外表面,所述顶部防护铅皮(24)粘附于铅皮固定罩(22)的顶端,所述铅皮屏蔽底板(26)与样品腔测试门(2)固定连接。

2.如权利要求1所述的一种样品...

【技术特征摘要】

1.一种样品腔防辐射结构,其特征在于:包括样品腔测试平台(1)、样品腔测试门(2)、样品腔测试后框(3),所述样品腔测试后框(3)的前侧通过铰链(31)与样品腔测试门(2)铰接,所述样品腔测试后框(3)和样品腔测试平台(1)固定连接,所述样品腔测试门(2)包括把手(21)、铅皮固定罩(22)、周边防护铅皮(23)、顶部防护铅皮(24)、固定罩固定孔(25)和铅皮屏蔽底板(26),所述周边防护铅皮(23)粘附于铅皮固定罩(22)的外表面,所述顶部防护铅皮(24)粘附于铅皮固定罩(22)的顶端,所述铅皮屏蔽底板(26)与样品腔测试门(2)固定连接。

2.如权利要求1所述的一种样品腔防辐射结...

【专利技术属性】
技术研发人员:马云
申请(专利权)人:江苏一六仪器有限公司
类型:新型
国别省市:

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