【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于集成电路，特别是涉及一种芯片处理方法、装置、电子设备及可读存储介质。
技术介绍
1、随着集成电路技术的发展，芯片的规模和复杂度不断增加，导致芯片产生故障的概率大大增加，因而为了保证芯片的正常工作，对芯片的测试尤为重要。目前，针对芯片测试往往采用扫描压缩结构，可以将扫描长链分割为扫描短链对芯片进行测试，可以很大程度上提高芯片测试的效率。
2、但由于扫描压缩结构是通过解压缩的方式将同一测试向量广播至不同的扫描链中，使得一些扫描链接收到的输入数据是相同的，存在输入值保持一致的关联寄存器。但在芯片测试时，部分故障需要对一些寄存器分别赋予不同的值，若这些寄存器中包含了关联寄存器，会产生无法测试的故障，导致芯片测试的覆盖率较低。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种芯片处理方法、装置、电子设备及可读存储介质，以便至少或部分地解决测试覆盖率较低的问题。
2、为了解决上述技术问题，本专利技术是这样实现的：
3、第一方面，本专利技术提供一种芯片处理方法，所述
<本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种芯片处理方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述基于待测试芯片的网表文件，获取目标子电路，包括：
3.根据权利要求2所述方法，其特征在于，所述方法还包括：
4.根据权利要求3所述方法，其特征在于，所述扫描链信息中包括各扫描链与解压缩单元的连接信息；所述基于所述扫描链信息获取目标扫描链组，包括：
5.根据权利要求1-4任一项所述方法，其特征在于，所述在所述网表文件中对所述目标寄存器在扫描链中的位置进行调整之后，所述方法还包括：
6.根据权利要求2-4任一项所述方法，...
【技术特征摘要】
1.一种芯片处理方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述基于待测试芯片的网表文件，获取目标子电路，包括：
3.根据权利要求2所述方法，其特征在于，所述方法还包括：
4.根据权利要求3所述方法，其特征在于，所述扫描链信息中包括各扫描链与解压缩单元的连接信息；所述基于所述扫描链信息获取目标扫描链组，包括：
5.根据权利要求1-4任一项所述方法，其特征在于，所述在所述网表文件中对所述目标寄存器在扫描链中的位置进行调整之后，所述方法还包括：
6.根据权利要求2-4任一项所述方法，其特征在于，所述在所述网表文件中对所述目标寄存器在扫描链中的位置进行调整，包括：
7.一种芯片处理装置，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：骆新宇，许超，高国重，
申请(专利权)人：龙芯中科技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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