【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种功率元件,特别是涉及一金属氧化物半导体场效晶体管,其具有通道式二极管功率元件。
技术介绍
1、金属氧化物半导体场效晶体管(mosfet)被广泛地应用在切换(power switch)元件上,近期有提出沟槽式(trench)的碳化硅(sic)技术应用于电动车及太阳能逆变器的领域中。
2、然而,对于以碳化硅为基材的金属氧化物半导体场效晶体管而言,应用于功率元件时,其pn接面的顺向偏压较大,约在2-3ev,相较于以硅基材的金属氧化物半导体场效晶体管而言,仅需以较低的电压即可导通电路(turn on)。
3、故,如何通过结构设计的改良,来提升碳化硅(sic)基材的金属氧化物半导体场效晶体管的效能,以克服上述的缺陷,已成为该项事业所欲解决的重要课题之一。
技术实现思路
1、本专利技术所要解决的技术问题在于,针对现有技术的不足提供一种功率元件的制作方法,其包括:提供电基板,其掺杂有第一导电掺杂物,电基板具有第一表面及相对的第二表面。在第一表面上形成外延层,其具
...【技术保护点】
1.一种功率元件的制作方法,其特征在于,所述功率元件的制作方法包括:
2.根据权利要求1所述的功率元件的制作方法,其特征在于,所述井区为多个,相邻的二个所述井区之间具有间距。
3.根据权利要求1所述的功率元件的制作方法,其特征在于,所述电基板为碳化硅基板,所述第一导电掺杂物为N型掺杂物。
4.根据权利要求1所述的功率元件的制作方法,其特征在于,所述第一氧化层的厚度为40-60nm;所述第二氧化层的厚度为1-10nm。
5.根据权利要求2所述的功率元件的制作方法,其特征在于,所述间距为0.5-5um;所述沟渠的深度为0.5
...【技术特征摘要】
1.一种功率元件的制作方法,其特征在于,所述功率元件的制作方法包括:
2.根据权利要求1所述的功率元件的制作方法,其特征在于,所述井区为多个,相邻的二个所述井区之间具有间距。
3.根据权利要求1所述的功率元件的制作方法,其特征在于,所述电基板为碳化硅基板,所述第一导电掺杂物为n型掺杂物。
4.根据权利要求1所述的功率元件的制作方法,其特征在于,所述第一氧化层的厚度为40-60nm;所述第二氧化层的厚度为1-10nm。
5.根据权利要求2所述的功率元件的制作方法,其特征在于,所述间距为0.5-5um;所述沟渠的深度为0.5-5um,所述沟渠内的...
【专利技术属性】
技术研发人员:唐松年,陈和泰,许修文,
申请(专利权)人:尼克森微电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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