【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及无损检测技术,涉及到电容层析成像技术、图像处理、深度学习和多相流参数测量等领域,具体涉及融合测量原理、数据、领域知识的电容层析成像重建方法。
技术介绍
1、电容层析成像(electrical capacitance tomography,ect)被认为是有望解决储能、制氢、碳中和、化学工程、碳捕获和封存等领域中多相流过程参数测量挑战的测量技术。随着理论研究和应用的不断发展,ect技术已在软硬件设施、成像算法及应用领域等方面取得了持续进步。然而,在实际应用中,尤其是在复杂的多相流环境下,ect技术仍面临图像质量不高的问题。因此,设计高效的重建算法以提升成像质量,已成为该领域广受关注的研究热点和关键挑战。
2、目前,多种算法被用于解决反问题,包括landweber算法、非线性成像算法、splitbregman算法、共轭梯度法、迭代方法,非迭代算法等。尽管这些算法有各自的优势,但它们普遍面临无法实现高精度重建的局限性。特别是在细节重建和伪影减少方面,现有方法仍存在明显不足。在此背景下,融合多样性和互补性的先验信息成为
...【技术保护点】
1.融合测量原理、数据、领域知识的电容层析成像重建方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的融合测量原理、数据、领域知识的电容层析成像重建方法,其特征在于,所述步骤1包括:
3.根据权利要求2所述的融合测量原理、数据、领域知识的电容层析成像重建方法,其特征在于,所述步骤2包括:
4.根据权利要求3所述的融合测量原理、数据、领域知识的电容层析成像重建方法,其特征在于,所述步骤3包括:
5.根据权利要求4所述的融合测量原理、数据、领域知识的电容层析成像重建方法,其特征在于,所述步骤4包括:
6.根
...【技术特征摘要】
1.融合测量原理、数据、领域知识的电容层析成像重建方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的融合测量原理、数据、领域知识的电容层析成像重建方法,其特征在于,所述步骤1包括:
3.根据权利要求2所述的融合测量原理、数据、领域知识的电容层析成像重建方法,其特征在于,所述步骤2包括:
4....
【专利技术属性】
技术研发人员:任婷,李鑫,殷昊阳,
申请(专利权)人:中国科学院电工研究所,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。