【技术实现步骤摘要】
本申请涉及结构分析，特别是涉及一种元器件结构分析方法、装置、计算机设备和存储介质。
技术介绍
1、元器件结构分析流程一般分为结构单元分解、结构要素识别和结构判别与评价3个环节。器件结构单元分解是对元器件结构进行进一步细分，分解后的结构单元是器件的结构的最小单元，不可再分。结构要素识别是在结构单元分解的基础上，分析器件的每个结构单元需评价的具体要素。
2、相关技术中，通常的结构分析是对器件的所有结构单元进行结构分析，导致结构分析的效率较低。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高结构分析效率的元器件结构分析方法、装置、计算机设备和存储介质。
2、第一方面，本申请提供了一种元器件结构分析方法，包括：
3、对元器件进行结构单元分解，得到至少一个结构单元；
4、确定与结构单元对应的故障模式和故障原因，根据故障模式和故障原因，确定元器件的结构分析要素；
5、基于结构分析要素，对元器件进行结构分析。
6...
【技术保护点】
1.一种元器件结构分析方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对元器件进行结构单元分解，得到至少一个结构单元，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定与所述结构单元对应的故障模式和故障原因，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述故障模式和所述故障原因，确定所述元器件的结构分析要素，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述确定与所述结构单元的故障模式对应的风险程度，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所
【技术特征摘要】
1.一种元器件结构分析方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对元器件进行结构单元分解，得到至少一个结构单元，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定与所述结构单元对应的故障模式和故障原因，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述故障模式和所述故障原因，确定所述元器件的结构分析要素，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述确定与所述结构单元的故障模式对应的风险程度，包括：
6.根据权利要求1所述的方...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡凛，胡湘洪，李伟，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。