重载数据校验电路、重载系统、重载数据校验方法和设备技术方案

本申请涉及一种重载数据校验电路、重载系统、重载数据校验方法、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。该电路包括：重载计数模块，用于接收与芯片对应的子重载数据，并对重载次数进行更新，得到更新后重载次数；校验码生成模块，与重载计数模块连接，用于在更新后重载次数小于或者等于预设重载次数的情况下，接收重载计数模块发送的子重载数据，生成子重载数据的第一校验码，以及将子重载数据写入芯片的内存执行区；在第一校验码与子重载数据的第二校验码相同的情况下，确认子重载数据校验通过，则利用第一校验码，更新芯片的非易失性存储区，并控制芯片执行当前剩余的初始化过程。采用本电路，有利于保证重载后的芯片能够正常运行。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及计算机，特别是涉及一种重载数据校验电路、重载系统、重载数据校验方法、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。

技术介绍

1、随着计算机技术的发展，为了保证芯片的稳定运行，有必要对芯片中那些需要重载的数据进行重载。

2、传统技术中，在数据重载过程中，由于某些不确定因素的影响，导致写入芯片的数据的准确率较低；那么重载后，芯片可能失效，比如挂死，导致芯片不能正常运行。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种有利于保证重载后的芯片能够正常运行的重载数据校验电路、重载系统、重载数据校验方法、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。

2、第一方面，本申请提供了一种重载数据校验电路，包括：

3、重载计数模块，用于接收与芯片对应的子重载数据，并对重载次数进行更新，得到更新后重载次数；所述子重载数据通过对与所述芯片对应的重载数据进行拆分得到；

4、校验码生成模块，与所述重载计数模块连接，用于在所述更新后重载次数小于或者等于预设重载次数的情况下，接收所述重本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种重载数据校验电路，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的重载数据校验电路，其特征在于，所述校验码生成模块，还用于在所述第一校验码与所述第二校验码不相同的情况下，确认所述子重载数据校验不通过；

3.根据权利要求1或2所述的重载数据校验电路，其特征在于，还包括：

4.根据权利要求1所述的重载数据校验电路，其特征在于，所述重载计数模块，还用于在所述更新后重载次数大于所述预设重载次数的情况下，控制所述芯片将所述内存执行区的备份区中与所述子重载数据对应的备份子重载数据，添加到所述内存执行区中与所述子重载数据对应的原始位置，并控制所述芯片执行当前剩余...

【技术特征摘要】

1.一种重载数据校验电路，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的重载数据校验电路，其特征在于，所述校验码生成模块，还用于在所述第一校验码与所述第二校验码不相同的情况下，确认所述子重载数据校验不通过；

3.根据权利要求1或2所述的重载数据校验电路，其特征在于，还包括：

4.根据权利要求1所述的重载数据校验电路，其特征在于，所述重载计数模块，还用于在所述更新后重载次数大于所述预设重载次数的情况下，控制所述芯片将所述内存执行区的备份区中与所述子重载数据对应的备份子重载数据，添加到所述内存执行区中与所述子重载数据对应的原始位置，并控制所述芯片执行当前剩余的初始化过程。

5.一种重载系统，其特征在于，包括：

6.一种重载数据校验方...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓俊萍，朱思良，
申请(专利权)人：深圳市合芯数字科技有限公司，
类型：发明
国别省市：