一种涂布均匀性检测反馈调节方法及系统技术方案

本发明专利技术属于自动化检测的技术领域，具体涉及一种涂布均匀性检测反馈调节方法，包括设定极片的扫描检测起点，以第一速度沿极片的宽度方向来回扫描，通过沿极片的涂布方向行进扫描整个极片，得到极片的各个单位宽度的厚度，对极片的各个单位宽度的厚度进行均值处理，对得到的均值情况可视化，判定极片的涂布均匀度是否在预设的阈值范围。本发明专利技术能够有效指导涂布调试或者表征产品状况，有效地提高电芯的生产效率和电芯的品质。此外，本发明专利技术还提供了一种涂布均匀性检测反馈调节系统。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于自动化检测，具体涉及一种涂布均匀性检测反馈调节方法及系统。

技术介绍

1、现有的电池生产工艺的涂布工序中，涂布均匀性是一项非常重要的技术指标，也是行业制造能力的体现，然而，如何有效地精准检测极片涂布的情况，并有效克服检测的盲区，则需要更巧妙更智能的手段去实现涂布均匀性检测反馈调节。因此，亟需一种新型的技术方案以解决上述问题。

技术实现思路

1、本专利技术的目的之一在于：针对现有技术的不足，提供一种涂布均匀性检测反馈调节方法，其能够满足离线检测和在线检测，通过有效表征极片各区间的涂布情况实现涂布均匀性检测反馈调节。

2、为了实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：

3、一种涂布均匀性检测反馈调节方法，包括以下步骤：

4、s1、设定极片的扫描检测起点，以第一速度沿极片的宽度方向来回扫描，通过沿极片的涂布方向行进扫描整个极片，得到极片的各个单位宽度的厚度；

5、s2、对极片的各个单位宽度的厚度进行均值处理，对得到的均值情况可视化，判定极片的涂布均匀度是本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种涂布均匀性检测反馈调节方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.如权利要求1所述的涂布均匀性检测反馈调节方法，其特征在于，步骤S1中还包括：使激光厚度检测单元的半径为0.5mm～1mm的光斑对准极片的涂布区的边缘，激光厚度检测单元分区扫描极片的各区的厚度。

3.如权利要求1所述的涂布均匀性检测反馈调节方法，其特征在于，步骤S1中还包括：采用射线检测单元扫描极片的涂布区，通过探测射线所反馈的参数记录极片各区的面密度。

4.如权利要求1所述的涂布均匀性检测反馈调节方法，其特征在于，步骤S1中还包括：以第二速度沿极片的宽度方向来回扫描，通过沿极片的涂布方...

【技术特征摘要】

1.一种涂布均匀性检测反馈调节方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.如权利要求1所述的涂布均匀性检测反馈调节方法，其特征在于，步骤s1中还包括：使激光厚度检测单元的半径为0.5mm～1mm的光斑对准极片的涂布区的边缘，激光厚度检测单元分区扫描极片的各区的厚度。

3.如权利要求1所述的涂布均匀性检测反馈调节方法，其特征在于，步骤s1中还包括：采用射线检测单元扫描极片的涂布区，通过探测射线所反馈的参数记录极片各区的面密度。

4.如权利要求1所述的涂布均匀性检测反馈调节方法，其特征在于，步骤s1中还包括：以第二速度沿极片的宽度方向来回扫描，通过沿极片的涂布方向行进扫描整个极片，得到极片的各个单位宽度的净重量，向重量分析单元反馈极片的涂布净重分布情况。

5.如权利要求1～4任一项所述的涂布均匀性检测反馈调节方法，其特征在于，步骤s2中还包括：对超出阈值的数据进行剔除，根据极片的厚度变化趋势确定极片涂布的均匀度，表征出极片的不同区域的厚度值及差异。...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱卓君，谌名昭，郑明清，
申请(专利权)人：浙江锂威能源科技有限公司，
类型：发明
国别省市：