取指命中率的确定方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种取指命中率的确定方法、装置、电子设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：在就地执行XIP模式下，获取功能相同的第一程序和第二程序；第一程序配置为非缓存Non‑Cache属性的情况下处理器从存储器取指，第二程序配置为缓存Cache属性的情况下处理器从存储器或者指令缓冲区取指；运行第一程序，在处理器取指过程中，采集存储器所产生的第一特征数据；运行第二程序，在处理器取指过程中，采集存储器所产生的第二特征数据；基于第一特征数据和第二特征数据，确定处理器从指令缓冲区取指的命中率。采用本方法能够降低确定取指命中率的硬件成本。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及软件交互，特别是涉及一种取指命中率的确定方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。

技术介绍

1、随着处理器(如cpu，central processing unit)的固件容量不断变大，上电时间要求愈来愈快，以及内存成本等原因，处理器需要运行在xip(execute in place，就地执行)模式。一般需要在处理器的设计阶段，评估处理器在xip模式的运行性能是否满足业务需求。此时，通过确定处理器在xip模式的取指命中率，可以评估出硬件和软件设计的合理性。传统的取指命中率的确定方法，通常是在处理器上集成硬件性能监控单元，通过硬件性能监控单元直接计算取指命中率。

2、然而，传统的取指命中率的确定方法，存在硬件成本较高的问题。

技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种取指命中率的确定方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品，可以降低确定取指命中率的硬件成本。

2、第一方面，本申请提供了一种取指命中率的确定方法。所述方法包括：

3、在就地执行xip模式本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种取指命中率的确定方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一特征数据包括第一功耗数据，所述第二特征数据包括第二功耗数据；或者，所述第一特征数据包括第一电磁辐射数据，所述第二特征数据包括第二电磁辐射数据。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一特征数据和所述第二特征数据，确定所述处理器从所述指令缓冲区取指的命中率，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一目标数据和所述第二目标数据，确定所述处理器从所述指令缓冲区取指的命中率，包括：

5.根据权利要求4所述的方...

【技术特征摘要】

1.一种取指命中率的确定方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一特征数据包括第一功耗数据，所述第二特征数据包括第二功耗数据；或者，所述第一特征数据包括第一电磁辐射数据，所述第二特征数据包括第二电磁辐射数据。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一特征数据和所述第二特征数据，确定所述处理器从所述指令缓冲区取指的命中率，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一目标数据和所述第二目标数据，确定所述处理器从所述指令缓冲区取指的命中率，包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一数量和所述第二数量，确定所述处理器从所述指令缓冲区取指的命中率，包括：

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，通过电流表征所述第一功耗数据和所述第二功耗数据，所述预设特征阈值为所述处理器对所述存储器发起读访问的最小电流值。

【专利技术属性】
技术研发人员：李海龙，
申请(专利权)人：哲库科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：