用于形成半导体结构的方法和计算设备技术

技术编号:41684930 阅读:24 留言:0更新日期:2024-06-14 15:36
本发明专利技术公开了用于形成半导体结构的方法和计算设备。一种用于形成半导体结构的方法,其包括:对表面包含硬掩膜层的晶圆执行光刻材料涂覆和图案化光刻,以形成基于轮廓图案的第一经图案化的硬掩膜层,该轮廓图案基于光刻中使用的曝光图案的轮廓;通过光刻对第一经图案化的硬掩膜层执行线性切割或终端切割,以形成基于目标图案的第二经图案化的硬掩膜层;以及基于第二经图案化的硬掩膜层,将目标图案转移到晶圆的基底。

【技术实现步骤摘要】


技术介绍

1、随着人们对电子产品需求的日益增加,对更高密度集成电路以及制造其的更高精度的工艺提出了更高要求。

2、光刻技术是一种精密的微细加工技术。常规光刻技术采用波长为的紫外光作为图像信息载体,以光致抗蚀剂(光刻胶)为中间或图像记录媒介,实现图形的变换、转移和处理,最终把图像信息传递到晶圆(主要指硅片)、或介质层上。

3、光刻技术按曝光源主要分为光学光刻。常见的光源包括紫外光源(uv)、深紫外光源(duv)、极紫外光源(euv)以及粒子束光刻。常见的粒子束光刻主要有x射线、电子束和离子束光刻等。

4、通常,在光学光刻中,uv只能实现一微米左右的图案分辨率。而duv、euv等虽然能实现更高的分辨率,但其价格昂贵。此外,在粒子束光刻中,电子束光刻、聚焦离子束光刻虽然也能一定程度上提高分别率,但需要耗时长、多次循环的书写制程,大大降低了工作效率。

5、本领域中需要一种低成本、高效率、高分辨率的形成半导体结构的方法。


技术实现思路

1、为了提供一种低成本、高效率、高本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于形成半导体结构的方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,执行光刻材料涂覆和图案化光刻包括:

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,执行光刻材料涂覆和图案化光刻包括:

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,执行光刻材料涂覆和图案化光刻包括:

5.如权利要求2-4中的任一项所述的方法,其特征在于,执行光刻材料涂覆和图案化光刻还包括:

6.如权利要求2-4中的任一项所述的方法,其特征在于,所述曝光图案由线条掩膜版提供。

7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,

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【技术特征摘要】

1.一种用于形成半导体结构的方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,执行光刻材料涂覆和图案化光刻包括:

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,执行光刻材料涂覆和图案化光刻包括:

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,执行光刻材料涂覆和图案化光刻包括:

5.如权利要求2-4中的任一项所述的方法,其特征在于,执行光刻材料涂覆和图案化光刻还包括:

6.如权利要求2-4中的任一项所述的方法,其特征在于,所述曝光图案由线条掩膜版提供。

7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,

8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,

9.如权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:请求不公布姓名
申请(专利权)人:张江国家实验室
类型:发明
国别省市:

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