用于相干接收芯片测试的辅助组件及对准方法技术

技术编号:41660132 阅读:40 留言:0更新日期:2024-06-14 15:21
本发明专利技术提供一种用于相干接收芯片测试的辅助组件以及对准方法。所述辅助组件包括:辅助芯片;辅助电路板,所述辅助电路板上设置有所述辅助芯片;基座,所述基座上封装有所述辅助芯片和辅助电路板。所述辅助组件设置在将光源的光输入到待测相干接收芯片的光路上,所述辅助电路板连接至多通道源表以进行测试,所述辅助芯片与信号光端口或本振光端口中的至少一个对准以实现光路的连通。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光电子芯片,尤其涉及一种用于相干接收芯片测试的辅助组件以及对准方法。


技术介绍

1、在光通信领域,相干检测是一项将接收到的信号光与本地激光器产生的本振光干涉,提取输出的干涉光信号的技术。该技术相比于传统的强度直检技术,具有支持多种调制格式,频谱利用效率高的优势。同时,由于相干检测可以保留光信号的相位信息,因此,在数字信号处理时,光纤的群速度色散和偏振模色散等信号的线性传输损伤,都容易较为有效的均衡。

2、相干接收芯片及基于该芯片的数字相干接收模块,是相干检测的具体应用形式。在将相干接收芯片封装成功能模块前,需要对相干接收芯片进行芯片级测试。

3、一般而言,相干接收芯片有信号光端口和本振光端口两个光信号输入端口,以及若干焊盘作为电学端口。相干接收芯片进行芯片级测试时,一般使用单根光纤或单通道光纤阵列从信号光端口或本振光端口轮流输入光,并使用探针卡扎测芯片焊盘。但是,这一测试方式难以测试一些需要在信号光端口和本振光端口同时输入两束相干光,且相干光的时延需要控制在一定范围内,方能有效进行测试的关键性能参数,如相干接收芯片的相本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于测试相干接收芯片的辅助组件,其中所述辅助组件包括:

2.根据权利要求1所述的辅助组件,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的辅助组件,其特征在于,

4.根据权利要求3所述的辅助组件,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的辅助组件,其特征在于,

6.根据权利要求2所述的辅助组件,其特征在于,

7.根据权利要求6所述的辅助组件,其特征在于,

8.根据权利要求7所述的辅助组件,其特征在于,

9.根据权利要求4或7所述的辅助组件,其特征在于,

10.根据权利要求9所述的辅助组件...

【技术特征摘要】

1.一种用于测试相干接收芯片的辅助组件,其中所述辅助组件包括:

2.根据权利要求1所述的辅助组件,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的辅助组件,其特征在于,

4.根据权利要求3所述的辅助组件,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的辅助组件,其特征在于,

6.根据权利要求2所述的辅助组件,其特征在于,

7.根据权利要求6所述的辅助组件,其特征在于,

8.根据权利要求7所述的辅助组件,其特征在于,

9.根据权利要求4或7所述的辅助组件,其特征在于,<...

【专利技术属性】
技术研发人员:郝玮鸣祁帆刘畅蔡鹏飞
申请(专利权)人:NANO科技北京有限公司
类型:发明
国别省市:

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