一种发射功率的检测方法及装置制造方法及图纸

技术编号:4160671 阅读:180 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种发射功率的检测方法及装置。其中所述方法包括以下步骤:选择m个子帧作为待检测子帧,所述m为大于1的整数;依次对所述待检测子帧的下行导频时隙进行n点功率采样,所述n为正整数,其中,后一下行导频时隙的采样点相对于前一下行导频时隙对应的采样点具有时间偏移ΔT;对所述n×m个功率采样点的功率采样结果进行平均,得到所述下行导频信号的平均功率,通过所述下行导频信号的平均功率确定所述发射功率。本发明专利技术还公开了一种功率检测装置。本发明专利技术技术方案的应用,能提高功率检测的精度,消除了不同码字对功率检测值的影响,消除了射频通道的时延对功率检测值的影响,并能节省资源。

Method and device for detecting transmitting power

The invention discloses a method and a device for detecting transmitting power. The method comprises the following steps: selecting m sub frame as detecting sub frames, wherein m is an integer greater than 1; followed by the detection of N downlink sub frame sampling point power pilot time slot, the n is a positive integer, the sampling point after a downlink pilot time slot has the time offset T phase for sampling points before a downlink pilot time slot corresponding to the n * m; a power point sampling results of average power, average power of the downlink pilot signal is obtained, the average power of the pilot signal through the determination of the downlink transmission power. The invention also discloses a power detecting device. The application of the technical proposal of the invention can improve the accuracy of the power detection, eliminate the influence of different code words on the power detection value, eliminate the influence of the time delay of the radio frequency channel on the power detection value, and can save the resource.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及无线通信
,具体而言本专利技术涉及发射功率检 测领域。
技术介绍
第三代移动通信系统广泛采用了 CDMA (Code Division Multiple Access,码分多址接入)为基础的接入方式,CDMA与传统的窄带通 信相比具有更宽的频谱带宽,较小的发射功率,相应地其chip(码片) 速率通常也是更高。TD-SCDMA ( Time Division-Synchronization Code Division Multiple Access,时分同步码分多址接入)除了具备一般 CDMA通信的特征,还具有其特有的时分特性。TD-SCDMA物理信道 中每个无线帧长10ms,每个无线帧分为两个5ms的子帧,每个子帧由 长度675us的7个常规时隙和3个特殊时隙组成。3个特殊时隙分别是 下行导频时隙、上行下行导频时隙和保护时隙。TD-SCDMA所有下行 时隙中只有下行导频在各种状态下都存在并且功率是比较稳定的。下 行导频的功率与其他时隙的功率、基站的总的发射功率存在对应关系, 因此,如果能准确检测出下行导频的功率,就能确定其他时隙的功率、 基站的总的发射功率。3GPP ( Third Generation Partnership Project,第三代合作伙伴计划) 25.142 TD-SCDMA基站一致性测试规范中,对基站最大输出功率的相 关规定是通常情况下,基站最大输出功率要在生产商的标称输出功率 PRAT土2dB之内;极端情况下,基站最大输出功率要子生产商的标称输出功率 PRAT士2.5dB之内;考虑到测试系统带来的不确定度,通常情况下,基站最大输出功率在PRAT士2.7dB之内;考虑到测试系统带来的不确定度,极端情况下,基站最大输出功 率在PRAT士3.2dB之内;上述协议中的通常情况指如下表所示的环境<table>table see original document page 6</column></row><table>上述协议中的极端情况可按照3GPP 25.142 TD-SCDMA基站一 致性测试规范中极端测试环境中的相关规定执行。TD-SCDMA通信系统中基站的发射功率由于外界环境温度的变 化而变化,基站发射功率相对于预期功率的降低或升高,发射功率低 于预期功率过多将影响到基站的覆盖范围,发射功率高于预期功率过多可能对其他基站造成干扰。为避免基站的发射功率的过大波动影响 性能, 一般的基站都会设计功率校准系统,定时监测调整射频系统的 发射功率,保证基站的发射功率在预期范围之内。由于只有下行导频 存在并且功率是比较稳定的,因此功率校准只能选择检测下行导频时 隙的功率。下行导频时隙由32chip的保护间隔和64chip的Sync—DL (Synchronize Down Link,下行同步)码组成。TD-SCDMA系统中共 有128个小区扰码来区分不同的小区,每四个扰码组成一组,对应一 个Sync—DL码,共32组Sync—DL码字。在建立不同扰码的小区时, 基站所发出的Sync一DL共有32种情况。在信号发射过程中,基带数字信号经过数字中频处理过程中, Sync—DL数字基带信号经过RRC ( Root Raised Cosine,根升余弦)成 形滤波器后波形会变化,导致发射出的Sync一DL在时域上的波形出现波动,而且不同码字的波动规J聿不相同。现有的TD-SCDMA功率校准系统的实现是通过功率检测系统得 到当前功率,与预期功率进行比较后,调整射频系统中的数控衰减器实现调节增益。目前的基站通常应用的功率^r测有以下三种方案1、 快响应的单点;险测方案该方案中功率检测硬件对输入信号的响应时间较短,可以保证输 出电压基本反映信号功率变化。通过遍历性实测或仿真,在下行导频 时隙中寻找一个时间点,使32组Sync一DL码字的时域波形在这一时 刻的功率都比较接近整个下行导频的平均功率。功率检测时,由FPGA (Field Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)对这个固定时 刻的功率检测结果进行数据采集。通过多个子帧重复检测下行导频时最终的功率检测值,这个值即被认为是下行导频时隙功率,基站使用 这个值进行功率校准。2、 快响应的多点检测方案该方案与第1方案的区别就在于,FPGA在同一个子帧对下行导 频的多个等间隔的固定时间点连续进行功率检测结果的数据采集,这 多个点的功率检测值经平均后,得到该帧的功率检测值。与第1方案 一样,系统同样通过多个子帧重复检测这些固定点的功率,然后将多 个子帧的检测功率进行平均而得到最终的功率检测值,基站使用这个 值进行功率校准。3、 慢响应的单点检测方案该方案中功率检测硬件对输入信号的响应时间较长,输出的电压 是对输入信号的在较长时间内的平均。在 一 个下行导频时隙周期内 FPGA采集对应一个时刻功率的数字量,基站功率校准软件进行换算 得到功率值,通过多个子帧重复检测下行导频时隙同一点的功率,然 后将这多个子帧检测的功率值进行平均后得到最终的功率检测值,基 站使用这个值进行功率校准。上述技术方案存在如下的缺点上述方案1在理论上可以通过仿真或实验测试寻找到下行导频的 某一个固定的点作为功率检测点,使32个Sync—DL码字在这一点的 功率都比较接近于下行导频的平均功率。但是,通过仿真发现,实际 只能找到使32个Sync—DL码字全都满足检测功率处于下行导频功率 士2.0dB范围内的点,而更高精度范围的点并不能找到,实验测试结果 与仿真结果相似。因此这就限制了这种方案的最高功率检测精度不可 能超过土2.0dB。而且,方案1对发射通道的时延要求比较严格,如果 实际基站发射通道的时延与仿真条件有差异,那么得到的结果将会更 差。上述方案2考虑到下行导频时隙的时域波形存在起伏波动,所以 连续选取多个采样点进行平均得到 一 次采样结果,即 一 帧的功率检测 值,采取多次平均后作为整个下行导频时隙的平均功率进行功率校准。 但是由于受到FPGA数据处理时延的限制,这个检测点数通常都很少, 一般只能有4到5个检测点。因此这种多点检测方案还是不能获得足 够的功率检测精度,并且如果这些点恰好都取在了功率较高点或者较 低点还有可能造成功率检测结果的较大误差。同样这种方案对发射通 道的时延要求很严格,如果不同基站发射通道的时延稍有差异,检测 结果就可能存在很大差异。上述方案3需要调整功率检测硬件对信号的响应时间到一个合适 值,使其输出电平的某一时间段可以反映信号平均功率,然后在这个 时间段内做功率检测,这个方法需要对硬件进行单板调试找到合适的 响应时间。该方案会因为器件不一致性而带来较大误差,而且也不能 完全消除上面提到的不同Sync_DL码字的下行导频时隙波动剧烈带来 的较大误差。
技术实现思路
本专利技术提出一种发射功率的检测方法及装置,目的旨在至少解决 现有技术中的上述问题之一。为了到达上述目的,本专利技术公开了一种发射功率的检测方法,对 下行导频时隙进行多点采样,使得所获得的各采样点功率的平均值接近于整个下行导频时隙的平均功率。本方法包括以下步骤选择m个 子帧作为待检测子帧,所述m为大于l的整数本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种发射功率的检测方法,其特征在于,包括以下步骤: 选择m个子帧作为待检测子帧,所述m为大于1的整数; 依次对所述待检测子帧的下行导频时隙进行n点功率采样,所述n为正整数,其中,后一下行导频时隙的采样点相对于前一下行导频时隙对应 的采样点具有时间偏移ΔT; 对上述n×m个功率采样点得到的功率采样结果进行平均,得到下行导频信号的平均功率,通过所述下行导频信号的平均功率确定发射功率。

【技术特征摘要】
1、一种发射功率的检测方法,其特征在于,包括以下步骤选择m个子帧作为待检测子帧,所述m为大于1的整数;依次对所述待检测子帧的下行导频时隙进行n点功率采样,所述n为正整数,其中,后一下行导频时隙的采样点相对于前一下行导频时隙对应的采样点具有时间偏移ΔT;对上述n×m个功率采样点得到的功率采样结果进行平均,得到下行导频信号的平均功率,通过所述下行导频信号的平均功率确定发射功率。2、 如权利要求1所述的发射功率的检测方法,其特征在于,对所 述待检测子帧的第 一 个下行导频时隙进行n点间隔相等的功率采样。3、 如权利要求2所述的发射功率的检测方法,其特征在于,所述 m、 n和AT满足下列关系nx (mxAT) <下行导频时隙所占的时间。4、 如权利要求1或2所述的发射功率的检测方法,其特征在于, 所述时间偏移AT依赖于基站数字中频成形滤波器的器件参数。5、 如权利要求1或2所述的发射功率的检测方法,其特征在于, 确定所述时间偏移AT包括以下步骤确定基站数字中频根升余弦RRC成形滤波器的内插倍数; 确定所需的功率检测精度,通过实验仿真确定采样间隔,使得在 所述采样间隔下获得的各采样点的平均功率,相对于经过所述基站数 字中频RR C成形滤波器滤波的所述下行导频信号的实际功率不失真; 将所述时间偏移△T取值为所述采样间隔。6、 如权利要求5所述的发射功率的检测方法,其特征在于,所述 基站数字中频RRC成形滤波器的内插倍数为60。7、 如权利要求6所述的发射功率的检测方法,其特征在于,所述 所需的功率检测精度为检测误差不大于0.015dB。8、 如权利要求7所述的发射功率的检测方法,其特征在于,所述 采样间隔为1/8码片chip或1/4chip。9、 如权利要求1所述的基站发射功率的检测实现方法,其特征在于,所述n依赖于基站内采样处理器处理数据的响应时间。10、 如权利要求1所述的发射功率的检测方法,其特征在于,所 述n点采样包括以下步骤确定基站内采样处理器处理数据的响应时间; 确定 一 个下行导频时隙内的有效;险测时间;在所述一个下行导频时隙内的有效4企测时间内进...

【专利技术属性】
技术研发人员:张世进林卫蔡月民熊军
申请(专利权)人:大唐移动通信设备有限公司
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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