【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及条纹投影,特别涉及一种物体三维表面自适应测量方法。
技术介绍
1、目前,三维形貌测量方法主要分为接触式测量和非接触式测量两大类。接触式测量以三坐标测量机为代表,虽然具备高精度,但耗时较长,尤其在测量大型零件时,需要数小时甚至整整一天。非接触式测量则以条纹投影技术为代表,具有高精度和高测量速度。然而,由于相机的动态范围有限,镜面反射可能导致图像饱和,而从较暗区域发出的光可能产生低强度的图像。因此,对表面反射率波动较大的3d轮廓进行准确测量是一项复杂的任务,这些问题可能对最终重建的精度产生影响。因此,解决高动态范围物体的三维形貌测量一直是光学三维测量领域的难题之一。
2、为了解决上述关切,已经制定了多种方法。多视图测量和偏振成像需要通过结合额外的硬件组件来缓解问题。通过调整投影的强度,自适应图像投影可以防止过度曝光;然而,它的工程能力受到将变形图案烧录到设备中的耗时过程的限制。同样,与基于深度学习的方法相关的长训练时间和结果不稳定性也限制了其工程可行性。多曝光hdr技术的根据捕获具有不同曝光时间的多个图像,然后使用
...【技术保护点】
1.一种物体三维表面自适应测量方法,其特征在于,所述基于条纹投影技术的物体三维表面自适应测量方法还包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述物体三维表面自适应测量方法,其特征在于,在步骤11中,所述曝光时间遵循以下关系:
3.根据权利要求1所述物体三维表面自适应测量方法,其特征在于,在步骤12中,所述峰度为:
4.根据权利要求1所述物体三维表面自适应测量方法,其特征在于,在步骤2中,所述饱和区域和非饱和区域的掩码矩阵为:
5.根据权利要求1所述物体三维表面自适应测量方法,其特征在于,在步骤3中,还包括以下步骤:
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【技术特征摘要】
1.一种物体三维表面自适应测量方法,其特征在于,所述基于条纹投影技术的物体三维表面自适应测量方法还包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述物体三维表面自适应测量方法,其特征在于,在步骤11中,所述曝光时间遵循以下关系:
3.根据权利要求1所述物体三维表面自适应测量方法,其特征在于,在步骤12中,所述峰度为:
4.根据权利要求1所述物体三维表面自适应测量方法,其特征在于,在步骤2中,所述饱和区域和非饱和区域的掩码矩阵为:
5.根据权利要求1所述物体三维表面自适应测量方法,其特征在于,在步骤3中,还包括以下步骤:<...
【专利技术属性】
技术研发人员:张宸博,于龙龙,姜晓燕,吴忠山,邓红丽,
申请(专利权)人:北京大恒图像视觉有限公司,
类型:发明
国别省市:
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