TDR测量方法、电子设备及存储介质技术

本申请提供一种TDR测量方法，用于TDR仪器的阻抗测量，其特征在于，方法包括：在串联电阻连接的情况下，通过时域反射计测量第一反射电压；通过时域反射计测量从初始时刻开始的各个时刻的第二反射电压，并基于各个第二反射电压输出第一阻抗曲线；在第一测量点位测量从初始时刻开始的各个时刻的第三反射电压，并基于各个第三反射电压输出第二阻抗曲线；以及基于第一反射电压和第二反射电压关系确定拟合时段，基于拟合时段将第一阻抗曲线和第二阻抗曲线进行拟合，得到第三阻抗曲线。本申请还提供一种电子设备及存储介质。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及计算机，特别涉及一种tdr测量方法、电子设备及存储介质。

技术介绍

1、为减少信号边沿的陡峭程度，高速链路中常见串联电阻的设计，该串联电阻可以跟信号线的分布电容以及负载的输入电容等形成一个rc电路，从而减少高频噪声以及过冲等。在进行已打件的pcba tdr测试时，高速链路中的串联电阻则会造成tdr实测阻抗偏大的问题。由于电阻分压了一部分电压，导致测量时间经过电阻时，认为电阻的这一部分的电压也属于反射电压，从而导致反射系数(反射电压/输入电压)变大，进而导致待测点的阻抗变大。

2、从传输线结构特征而言，传输线本身的阻抗不会因为加了电阻的变化产生变化，因其物理结构并没有发生改变，因此tdr测试结果的变化无法反应真实特性阻抗。

技术实现思路

1、本申请实施例的目的在于提供一种tdr测量方法、电子设备及可读存储介质。

2、根据本申请第一方面提供的tdr测量方法，用于tdr仪器的阻抗测量，所述方法包括：

3、在串联电阻连接的情况下，通过时域反射计测量第一反射电压；

<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种TDR测量方法，用于TDR仪器的阻抗测量，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的TDR测量方法，其特征在于，基于所述第一反射电压和第二反射电压关系确定拟合时段，基于所述拟合时段将所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线进行拟合，得到第三阻抗曲线，包括：

3.根据权利要求2所述的TDR测量方法，其特征在于，基于所述第一反射电压和第二反射电压关系确定拟合时段，基于所述拟合时段将所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线进行拟合，得到第三阻抗曲线，包括：

4.根据权利要求3所述的TDR测量方法，其特征在于，基于所述第一反射电压和第二反射电压关系确定拟...

【技术特征摘要】

1.一种tdr测量方法，用于tdr仪器的阻抗测量，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的tdr测量方法，其特征在于，基于所述第一反射电压和第二反射电压关系确定拟合时段，基于所述拟合时段将所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线进行拟合，得到第三阻抗曲线，包括：

3.根据权利要求2所述的tdr测量方法，其特征在于，基于所述第一反射电压和第二反射电压关系确定拟合时段，基于所述拟合时段将所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线进行拟合，得到第三阻抗曲线，包括：

4.根据权利要求3所述的tdr测量方法，其特征在于，基于所述第一反射电压和第二反射电压关系确定拟合时段，基于所述拟合时段将所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线进行拟合，得到第三阻抗曲线，包括：

5.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：王梦莹，陆磊，张巧云，张超，
申请(专利权)人：合肥联宝信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：