一种基于重测序的InDel背景分子标记设计方法及应用技术

技术编号:41537792 阅读:24 留言:0更新日期:2024-06-03 23:16
本发明专利技术公开了一种基于重测序的InDel背景分子标记设计方法及应用,包括数据预处理模块、变异位点筛选模块、引物设计模块和背景分子标记开发模块。本发明专利技术实现了基于重测序数据,在全基因组范围内鉴定和筛选InDe l标记,并进行引物设计和背景分子标记开发,具有操作灵活、自动化程度高和批量高效等优点。本发明专利技术基于样本的重测序数据设计背景分子标记,与传统的基于参考基因组设计引物相比,引物特异性更强、密度更高、数量更多。本发明专利技术创新性使用划窗对InDel变异进行筛选,统一了每个窗口只允许存在一个InDel标记,减少了基于参考基因组直接寻找变异位点的不确定性,保证了背景分子标记的可靠性和基因分型能力。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测序,具体为一种基于重测序的indel背景分子标记设计方法及应用。


技术介绍

1、作物种质资源的收集、鉴定和评价是保持物种遗传多样性和保障生态平衡的重要措施。dna插入/缺失(insertion/deletion,indel)标记具有带型简单、密度高、容易检测和结果准确等特点,非常适合作为背景分子标记,用于种质资源的遗传鉴定和评价。二代测序(next generation sequence,ngs)又称为重测序,可以在基因组范围内鉴定遗传变异,为育种和作物遗传改良提供了宝贵的信息。综上所述,针对基因组遗传变异,开发相应的背景分子标记,有利于在基因层面对种质资源进行快速鉴定和评价,提高工作效率和减少成本。

2、传统的标记开发是基于一段参考基因组序列进行引物设计。然而,由于缺少个体的遗传变异信息,基于传统方法开发引物具有很大的盲目性,通常需要进行实验验证,且可用性较低。此外,基于遗传变异信息进行标记的开发,需要前期大量的人工筛选和反复确认,这极大的增加了时间和金钱成本。


技术实现思路b>

1本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于重测序的InDel背景分子标记设计装置,其特征在于:包括数据预处理模块、变异位点筛选模块、引物设计模块和背景分子标记开发模块。

2.实现权利要求1所述的一种基于重测序的InDel背景分子标记设计装置的方法,其特征在于:设计方法包括以下步骤:

3.根据权利要求2所述的一种基于重测序的InDel背景分子标记设计装置的方法,其特征在于:所述步骤A7中过滤方法如下:

4.根据权利要求2所述的一种基于重测序的InDel背景分子标记设计装置的方法,其特征在于:所述步骤B2标记方法如下:

5.根据权利要求2所述的一种基于重测序的InDel背景...

【技术特征摘要】

1.一种基于重测序的indel背景分子标记设计装置,其特征在于:包括数据预处理模块、变异位点筛选模块、引物设计模块和背景分子标记开发模块。

2.实现权利要求1所述的一种基于重测序的indel背景分子标记设计装置的方法,其特征在于:设计方法包括以下步骤:

3.根据权利要求2所述的一种基于重测序的indel背景分子标记设计装置的方法,其特征在于:所述步骤a7中过滤方法如下:

4.根据权利要求2所述的一种基于重测序的indel背景分子标记设计装置的方法,其特征在于:所述步骤b2标记方法如下:

5.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:彭歆刘琦沈梦圆赵均良杨武甘玉立
申请(专利权)人:广东省农业科学院水稻研究所
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1