用于电解槽的测量系统、用于控制测量系统的方法及装置制造方法及图纸

技术编号:41533429 阅读:28 留言:0更新日期:2024-06-03 23:10
本申请涉及电解参数测量技术领域,公开了一种用于电解槽的测量系统、用于控制测量系统的方法及装置。测量系统包括:移动机构,能够相对于电解槽移动;测量支架,设置于移动机构,且测量支架能够相对于移动机构运动;测量机构,设置于测量支架,且测量机构能够相对于测量支架转动,测量机构包括测量钎,测量钎用于伸入电解槽进行测量;孔位识别装置,设置于测量机构,孔位识别装置用于识别电解槽的炉孔位置,以供测量钎通过炉孔伸入电解槽。本申请实现了测量钎与炉孔的自动对准,提高了采样的的自动化程度,缩短了采样消耗的时长,提高了电解参数测量的效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及电解参数测量,例如涉及一种用于电解槽的测量系统、用于控制测量系统的方法及装置


技术介绍

1、电解参数(例如,电解质水平和铝水平等)是电解槽生产管理的重要指标。相关技术中,电解铝生产过程中,主要采用人工操作测量工具上的测量钎,对准电解槽上的炉孔,然后使测量钎通过炉孔滑入至电解槽内,并需要保持测量钎稳定放置后进行采样,以完成电解参数的测量。由于电解车间的环境通常比较恶劣,采用人工的方式进行电解参数的测量,工人的劳动强度大,且无法保证测量钎的稳定放置,导致采取的样本可能不准确,造成测量出的电解参数不准确。因此,如何提够一种能够使测量钎与炉孔自动对准,并完成采样的方案,成为亟需解决的技术问题。


技术实现思路

1、为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解,下面给出了简单的概括。所述概括不是泛泛评述,也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围,而是作为后面的详细说明的序言。

2、本公开实施例提供了一种用于电解槽的测量系统、用于控制测量系统的方法及装置,可以实现测量钎与炉孔的自动对准,本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于电解槽的测量系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测量系统,其特征在于,测量机构还包括:

3.根据权利要求2所述的测量系统,其特征在于,测量臂包括:

4.根据权利要求3所述的测量系统,其特征在于,支撑体包括:

5.根据权利要求2所述的测量系统,其特征在于,测量机构还包括:

6.根据权利要求2所述的测量系统,其特征在于,

7.根据权利要求5所述的测量系统,其特征在于,测量机构还包括:

8.根据权利要求7所述的测量系统,其特征在于,凸起部包括:

9.根据权利要求1至8中任一...

【技术特征摘要】

1.一种用于电解槽的测量系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测量系统,其特征在于,测量机构还包括:

3.根据权利要求2所述的测量系统,其特征在于,测量臂包括:

4.根据权利要求3所述的测量系统,其特征在于,支撑体包括:

5.根据权利要求2所述的测量系统,其特征在于,测量机构还包括:

6.根据权利要求2所述的测量系统,其特征在于,

7.根据权利要求5所述的测量系统,其特征在于,测量机构还包括:

8.根据权利要求7所述的测量系统,其特征在于,凸起部包括:

9.根据权利要求1至8中任一项所述的测量系统,其特征在于,

10.根据权利要求1至8中任一项所述的测量系统,其特征在于,

11.根据权利要求1至8中任一项所述的测量系统,其特征在于,移动机构包括:

12.根据权利要求1至8中任一项所述的测量系统,其特征在于,还包括:

13.根据权利要求1至8中任一项所述的测量系统,其特征在于,还包括:

14.根据权利要求1至8中任一项所述的测量系统,其特征在于,还包括:

15.根据权利要求14所述的测量系统,其特征在于,去除机构包括:...

【专利技术属性】
技术研发人员:王柯张祺杨杰马红林朱磊林红权张青蒙董文迪武传浩刘刚王传强师龙
申请(专利权)人:中国科学院重庆绿色智能技术研究院
类型:发明
国别省市:

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