【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于计量校准，尤其涉及了一种表面粗糙度比较样块组的快速校准装置及方法。
技术介绍
1、表面粗糙度比较样块是用来检查被测工件表面粗糙度的一种工作用计量器具，广泛应用于机械加工及产品表面质量检测领域。其使用方法是以经过计量部门校准合格的比较样块的表面粗糙度值为标准，凭触觉、视觉与被测工件表面进行比较，判断被测表面粗糙度是否满足设计及使用要求。
2、在使用粗糙度比较样块进行检查被测工件时，要求所选用的比较样块和被测件两者的加工方法必须一致。由于机械加工方法繁多，如磨、车、镗、铣、刨、电火花、研磨、抛光等，所使用的表面粗糙度比较样块相对应的种类也较多。常见的比较样块有7组27块、8组32块等。
3、按照国家的校准规范规定，比较样块的表面粗糙度用轮廓算术平均值ra来评定，校准值为ra的10个平均值。该规范规定使用触针式表面粗糙度测量仪来校准比较样块，并规定在比较样块表面均匀分布的10个位置上测量ra数据。该校准存在几个问题：一、由于采用触针接触测量，容易划伤触针及被测样块表面，影响仪器和比较样块测量数据的准确性。...
【技术保护点】
1.一种表面粗糙度比较样块组的快速校准装置，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的一种表面粗糙度比较样块组的快速校准装置，其特征在于：所述线光谱共焦传感器(1)的探头端朝向所述二维运动平台(4)上的样块阵列(5)，所述二维运动平台(4)其中一水平直线移动方向与样块阵列(5)的长边方向相平行，二维运动平台(4)另一水平直线移动方向与样块阵列(5)的宽边方向相平行。
3.根据权利要求1所述的一种表面粗糙度比较样块组的快速校准装置，其特征在于：所述计算机通过运动控制器控制二维运动平台(4)和电机驱动系统的运动状态，进而控制样块阵列(5)的水平位置以及...
【技术特征摘要】
1.一种表面粗糙度比较样块组的快速校准装置，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的一种表面粗糙度比较样块组的快速校准装置，其特征在于：所述线光谱共焦传感器(1)的探头端朝向所述二维运动平台(4)上的样块阵列(5)，所述二维运动平台(4)其中一水平直线移动方向与样块阵列(5)的长边方向相平行，二维运动平台(4)另一水平直线移动方向与样块阵列(5)的宽边方向相平行。
3.根据权利要求1所述的一种表面粗糙度比较样块组的快速校准装置，其特征在于：所述计算机通过运动控制器控制二维运动平台(4)和电机驱动系统的运动状态，进而控制样块阵列(5)的水平位置以及线光谱共焦传感器(1)的竖向位置，线光谱共焦传感器(1)通过数据采集器将采集到的数据信号传输给计算机。
4.一种应用于权利要求1-3任一所述装置的表面粗糙度比较样块组的快速校准方法，其特征在于，包括如下步骤：
5.根据权利要求4所述的一种...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈挺，吴春晖，叶欣，卢歆，叶怀储，王瑛辉，成英淑，朱进，
申请(专利权)人：浙江省计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：
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