电路板检测的计算成像方法、装置、计算机设备及介质制造方法及图纸

本申请涉及电路板检测技术领域，特别是涉及电路板检测的计算成像方法、装置、计算机设备及存储介质，所述方法包括：根据电路板标准件的结构，获取电路板标准件的基准模型；基于机器视觉技术获取待测电路板的图像信息；根据所述待测电路板的图像信息，对所述待测电路板进行分区处理，得到涂层区和部件区；基于检测技术获取所述涂层区的结构数据和所述部件区的结构数据；根据所述涂层区的结构数据和所述部件区的结构数据，生成实际模型；将所述实际模型与所述基准模型对比，判断所述待测电路板的质量情况，通过上述方法，提高了检测精准度高以及测试效率，降低漏检率，并且降低了人力资源成本。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及到电路板检测，特别是涉及电路板检测的计算成像方法、装置、计算机设备及存储介质。

技术介绍

1、随着技术的不断发展，目前在印制电路板从单层发展到双面板、多层板和挠性板，并不断地向高精度、高密度和高可靠性方向发展。但是，印制电路板的电路连接密集程度越来越高，通过传统的电学方法检测电路连接情况盲目性程度高，工作效率低且漏检率高，因此如何提高电路板检测精准度高以及测试效率，降低漏检率问题亟待解决。

2、

技术实现思路

1、本申请的主要目的为提供电路板检测的计算成像方法、装置、计算机设备及存储介质，旨在提高检测效率。

2、为了实现上述专利技术目的，本申请提出电路板检测的计算成像方法，包括：

3、电路板检测的计算成像方法，所述方法包括：

4、根据电路板标准件的结构，获取电路板标准件的基准模型；

5、基于机器视觉技术获取待测电路板的图像信息；

6、根据所述待测电路板的图像信息，对所述待测电路板进行分区处理，得到涂层区和部件区；

7本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.电路板检测的计算成像方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的电路板检测的计算成像方法，其特征在于，所述基于检测技术获取所述涂层区的结构数据和所述部件区的结构数据，包括：

3.根据权利要求1所述的电路板检测的计算成像方法，其特征在于，所述根据所述涂层区的结构数据和所述部件区的结构数据，生成实际模型，包括：

4.根据权利要求1所述的电路板检测的计算成像方法，其特征在于，所述将所述实际模型与所述基准模型对比，判断所述待测电路板的质量情况，包括：

5.电路板检测的计算成像装置，其特征在于，所述装置包括：p>

6.计算机...

【技术特征摘要】

1.电路板检测的计算成像方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的电路板检测的计算成像方法，其特征在于，所述基于检测技术获取所述涂层区的结构数据和所述部件区的结构数据，包括：

3.根据权利要求1所述的电路板检测的计算成像方法，其特征在于，所述根据所述涂层区的结构数据和所述部件区的结构数据，生成实际模型，包括：

4.根据权利要求1所述的电路板检测的计算成像方法，其特征在于，所述将所述实际模型与所述基准模...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜魏，
申请(专利权)人：辰穗广州网络科技有限公司，
类型：发明
国别省市：