【技术实现步骤摘要】
本公开总体上涉及存储器装置及其操作方法以及验证结果发生器。
技术介绍
1、半导体存储器装置执行用于检查是否已经正常执行编程的编程验证。过去，编程验证只能检查连接到所选页的所有存储器单元是否已经通过编程验证而被完全编程。然而，已经在寻求能够对连接到所选页的所有存储器单元当中的未完全编程的存储器单元的数量进行计数的不同验证技术。
技术实现思路
1、根据本公开的一个方面，提供了一种存储器装置，该存储器装置包括：存储器单元阵列，其包括多个存储器单元；外围电路，其包括通过多条位线分别连接到多个存储器单元的多个页缓冲器；感测电路，其通过多条感测线分别连接到多个页缓冲器，该感测电路：以多个块为单位对页缓冲器执行感测操作，并且输出多个块中的每一个的感测结果，各个块包括多个页缓冲器当中的两个或更多个页缓冲器；验证结果输出电路，其被配置为基于多个块的感测结果而输出存储器单元要被编程到的多个编程状态中的目标编程状态的最终验证结果；以及控制逻辑，其被配置为基于最终验证结果而控制感测电路和外围电路，其中，验证结果输...
【技术保护点】
1.一种存储器装置，所述存储器装置包括：
2.根据权利要求1所述的存储器装置，其中，所述验证结果输出电路包括：
3.根据权利要求2所述的存储器装置，其中，当输入块的感测结果全部对应于表示通过的信号时，所述多个第一逻辑门中的每一个输出表示对对应块组的验证操作已经通过的块组验证信号。
4.根据权利要求2所述的存储器装置，其中，当所述块组验证信号当中的任一个块组验证信号表示通过时，所述第二逻辑门输出表示所述目标编程状态的验证已经通过的最终验证结果。
5.根据权利要求1所述的存储器装置，其中，所述块当中的相邻块被包括在不同的块组
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【技术特征摘要】
1.一种存储器装置，所述存储器装置包括：
2.根据权利要求1所述的存储器装置，其中，所述验证结果输出电路包括：
3.根据权利要求2所述的存储器装置，其中，当输入块的感测结果全部对应于表示通过的信号时，所述多个第一逻辑门中的每一个输出表示对对应块组的验证操作已经通过的块组验证信号。
4.根据权利要求2所述的存储器装置，其中，当所述块组验证信号当中的任一个块组验证信号表示通过时，所述第二逻辑门输出表示所述目标编程状态的验证已经通过的最终验证结果。
5.根据权利要求1所述的存储器装置，其中，所述块当中的相邻块被包括在不同的块组中。
6.根据权利要求1所述的存储器装置，其中，所述块组中的每一个包括多个相邻块。
7.根据权利要求1所述的存储器装置，其中，包括在相应块组中的块的数量彼此相等。
8.根据权利要求1所述的存储器装置，其中，包括在相应块组中的块的数量彼此不同。
9.根据权利要求1所述的存储器装置，其中，所述控制逻辑控制所述外围电路将所述存储器单元编程到所述多个编程状态。
10.根据权利要求9所述的存储器装置，其中，所述控制逻辑输出用于选择要对其执行所述感测操作的块的选择信号。
11.根据权利要求10所述的存储器装置，其中，所述感测电路对通过所述选择信号选择的块执行所述感测操作。
12.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：崔亨进，朴赞植，
申请(专利权)人：爱思开海力士有限公司，
类型：发明
国别省市：
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