延长固态硬盘寿命方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:41523286 阅读:26 留言:0更新日期:2024-06-03 22:56
本发明专利技术涉及一种延长固态硬盘寿命方法、装置、设备及存储介质,包括以下步骤:在固态硬盘的工作状态下,获取影响固态硬盘温度的相关参数,对所述影响固态硬盘温度的相关参数计算,得到固态硬盘的阈值温度线;在固态硬盘的工作状态下,获取固态硬盘在各个时刻相对应的温度点;判断所述各个时刻相对应的温度点是否超出阈值温度线,若所述温度点超过所述阈值温度线,则采用降温策略;通过降低固态硬盘的温度,解决了固态硬盘加速老化,避免数据存储单元的可靠性下降的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机的,特别涉及一种延长固态硬盘寿命方法、装置、设备及存储介质


技术介绍

1、固态硬盘使用闪存(通常是nand型)来存储数据。与传统的机械硬盘(hdd)相比,固态硬盘没有机械移动部件,因此读写速度更快,抗震性能更好。然而,固态硬盘的寿命受到写入次数(写入/擦除循环)的限制,每个存储单元(单元)只能承受有限次数的写入操作。

2、温度对固态硬盘寿命的影响是显著的。高温环境下,固态硬盘中的电子元件可能会加速老化,导致数据存储单元的可靠性下降。此外,高温还可能增加数据错误率,降低固态硬盘的整体性能和寿命。


技术实现思路

1、本专利技术的主要目的为提供一种延长固态硬盘寿命方法、装置、设备及存储介质,通过降低固态硬盘的温度,避免固态硬盘加速老化,进而避免数据存储单元的可靠性下降的问题。

2、为实现上述目的,本专利技术提供了一种延长固态硬盘寿命方法,应用于电子设备,包括以下步骤:

3、在固态硬盘的工作状态下,获取影响固态硬盘温度的相关参数,对所述影响固态硬盘温度的相关参本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种延长固态硬盘寿命方法,应用于电子设备,其特征在于:包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的延长固态硬盘寿命,其特征在于:获取影响固态硬盘温度的相关参数,对所述影响固态硬盘温度的相关参数计算,得到固态硬盘的阈值温度线的步骤,包括:

3.根据权利要求1所述的延长固态硬盘寿命方法,其特征在于:在固态硬盘的工作状态下,所述获取固态硬盘在各个时刻相对应的温度点的步骤,包括:

4.根据权利要求1所述的延长固态硬盘寿命方法,其特征在于:还包括:

5.根据权利要求1所述的延长固态硬盘寿命方法,其特征在于:判断所述各个时刻相对应的温度点是否超出阈值温...

【技术特征摘要】

1.一种延长固态硬盘寿命方法,应用于电子设备,其特征在于:包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的延长固态硬盘寿命,其特征在于:获取影响固态硬盘温度的相关参数,对所述影响固态硬盘温度的相关参数计算,得到固态硬盘的阈值温度线的步骤,包括:

3.根据权利要求1所述的延长固态硬盘寿命方法,其特征在于:在固态硬盘的工作状态下,所述获取固态硬盘在各个时刻相对应的温度点的步骤,包括:

4.根据权利要求1所述的延长固态硬盘寿命方法,其特征在于:还包括:

5.根据权利要求1所述的延长固态硬盘寿命方法,其特征在于:判断所述各个时刻...

【专利技术属性】
技术研发人员:尹春
申请(专利权)人:深圳市奥斯珂科技有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1