【技术实现步骤摘要】
本技术涉及汽车零部件测试工装，特别是一种齿轮副侧隙的测量装置。
技术介绍
1、现有技术测量齿轮副侧隙的方法有三种，分别为塞尺直接测量法、单点测量法以及咬铅丝法。这三种方法的主要缺陷是：对齿轮副所处空间要求比较高，即需要有足够的开敞性，以便测量工具能够与齿轮轮廓面接触。而在测量空间受限的情况下，例如在封闭空间内的齿轮副，这几种测量方法很难将齿轮副侧隙测量出来。
技术实现思路
1、本技术的目的是提供一种齿轮副侧隙的测量装置，以解决现有技术中的问题，使得受限空间或封闭空间内的齿轮副侧隙更加容易测出。
2、本技术提供了一种齿轮副侧隙的测量装置，包括：
3、支架，所述支架的一端设有安装平台；
4、固定部，所述固定部设于所述支架远离所述安装平台的一端，所述固定部用于将所述支架固定于齿轮轴上；
5、测量部，所述测量部设于所述安装平台上，所述测量部用于测量齿轮轴转动的角度。
6、如上所述的一种齿轮副侧隙的测量装置，其中，优选的是，所述固定部包括定...
【技术保护点】
1.一种齿轮副侧隙的测量装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的齿轮副侧隙的测量装置，其特征在于，所述固定部包括定位件以及固定件，所述定位件以及所述固定件均设于所述支架上，所述定位件用于将所述支架安装至所述齿轮轴上，所述固定件用于将所述支架固定于所述齿轮轴。
3.根据权利要求2所述的齿轮副侧隙的测量装置，其特征在于，所述定位件为定位杆，所述定位杆固定于所述支架上，所述定位杆的延伸方向与所述支架的延伸方向垂直。
4.根据权利要求3所述的齿轮副侧隙的测量装置，其特征在于，所述固定件为固定板，所述固定板上设有螺纹孔，所述支架可通...
【技术特征摘要】
1.一种齿轮副侧隙的测量装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的齿轮副侧隙的测量装置，其特征在于，所述固定部包括定位件以及固定件，所述定位件以及所述固定件均设于所述支架上，所述定位件用于将所述支架安装至所述齿轮轴上，所述固定件用于将所述支架固定于所述齿轮轴。
3.根据权利要求2所述的齿轮副侧隙的测量装置，其特征在于，所述定位件为定位杆，所述定位杆固定于所述支架上，所述定位杆的延伸方向与所述支架的延伸方向垂直。
4.根据权利要求3所述的齿轮副侧隙的测量装置，其特征在于，所述固定件为固定板，所述固定板上设有螺纹孔，所述支架可通过螺栓与所述螺纹孔的配合与所述齿轮轴固定连接。
5.根据权利要求4所述的齿轮副侧隙的测量装置，其特征在于，所述固定板凸设于所述支架的侧面，所述固定板凸出的方向与所述定位杆的延伸方向相同。
...【专利技术属性】
技术研发人员：张帆，宋树森，黄德健，杨连波，唐瑶，
申请(专利权)人：上汽通用五菱汽车股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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