外径千分尺测量面偏位检测专用检具及检测方法技术

技术编号:41503822 阅读:22 留言:0更新日期:2024-05-30 14:45
本发明专利技术涉及一种外径千分尺测量面偏位检测专用检具及检测方法,通过专用检具对外径千分尺两测量面的偏位误差进行测量,专用检具包括框体、标准杆、百分表、滑块、第一支撑杆和第二支撑,框体的一侧设有刻度,第一支撑杆设于框体底部一端并与框体上的零刻度线对齐,滑块滑动套设于框体上,第二支撑杆设于滑块底部,百分表竖立固定于滑块与第一支撑杆之间的框体上,百分表上设有测头,测头向下延伸至框体下方,第一支撑杆和第二支撑杆等高且同轴,标准杆为圆柱状结构,标准杆用于专用检具的校准且标准杆的直径等于外径千分尺的测微螺杆的直径。本发明专利技术的有益效果在于:可便捷且准确地测量出外径千分尺两测量面的偏位误差,有利于提升工作效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及外径千分尺精度检测,具体涉及一种外径千分尺测量面偏位检测专用检具及检测方法


技术介绍

1、外径千分尺(又称螺旋测微仪)作为精密量具,被广泛应用于机械加工之中,用于工件的测量。作为制造企业,外径千分尺各项精度的检测,均有相应的检测方法、设备或标准器等。

2、外径千分尺作为通用量具,其精度的可靠性是准确测量的基础,其中两测量面的偏位误差是检测项目中的重要指标之一,国家标准、行业标准等均对其有明确的要求,并推荐了相应的检测方法,但是对于相关的加工制造企业,根据现有的检测方法并不适宜对外径千分尺大进行批量快速检测,且难度大耗时长,导致工作效率较低。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于克服现有技术的缺点,提供一种外径千分尺测量面偏位检测专用检具及检测方法,可便捷且准确地测量出外径千分尺两测量面的偏位误差,有利于提升工作效率。

2、本专利技术的目的通过以下技术方案来实现:

3、本专利技术提供了一种外径千分尺测量面偏位检测专用检具,包括框体、标准杆、百分表、滑块、第一本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种外径千分尺测量面偏位检测专用检具,其特征在于:包括框体(1)、标准杆(2)、百分表(3)、滑块(4)、第一支撑杆(5)、第二支撑杆(6)和测头(7),框体(1)的一侧设有刻度,第一支撑杆(5)设于框体(1)底部一端并与框体(1)上的零刻度线对齐,滑块(4)滑动套设于框体(1)上,第二支撑杆(6)设于滑块(4)底部,百分表(3)竖立固定于滑块(4)与第一支撑杆(5)之间的框体(1)上,百分表(3)上设有测头(7),测头(7)向下延伸至框体(1)下方,第一支撑杆(5)和第二支撑杆(6)等高且同轴,标准杆(2)为圆柱状结构,标准杆(2)用于专用检具的校准且标准杆(2)的直径等于被测外径...

【技术特征摘要】

1.一种外径千分尺测量面偏位检测专用检具,其特征在于:包括框体(1)、标准杆(2)、百分表(3)、滑块(4)、第一支撑杆(5)、第二支撑杆(6)和测头(7),框体(1)的一侧设有刻度,第一支撑杆(5)设于框体(1)底部一端并与框体(1)上的零刻度线对齐,滑块(4)滑动套设于框体(1)上,第二支撑杆(6)设于滑块(4)底部,百分表(3)竖立固定于滑块(4)与第一支撑杆(5)之间的框体(1)上,百分表(3)上设有测头(7),测头(7)向下延伸至框体(1)下方,第一支撑杆(5)和第二支撑杆(6)等高且同轴,标准杆(2)为圆柱状结构,标准杆(2)用于专用检具的校准且标准杆(2)的直径等于被测外径千分尺的测微螺杆的直径。

2.根据权利要求1所述的外径千分尺测量面偏位检测专用检具,其特征在于:百分表的量程为0-3mm,百分表的分度值为0.01mm,百分表的表头直径为42mm。

3.根据权利要求1所述的外径千分尺测量面偏位检测专用检具,其特征在于:第一支撑杆(5)底部和第二支撑杆(6)杆底部均设有60°v型卡口(8)。

4.根据权利要求1所述的外径千分尺测量面偏位检测专用检具,其特征在于:百分表(3)的测头(7)为刀口型,百分表(3)的测头(7)的刀口平面厚度为0.3-0.5mm,刀口平面宽度为3-4mm。...

【专利技术属性】
技术研发人员:王婷汪先根
申请(专利权)人:成都新成量工具有限公司
类型:发明
国别省市:

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