一种推力调心滚子轴承装配高偏差测量方法技术

本发明专利技术属于轴承高度计量技术领域，具体提供一种推力调心滚子轴承装配高偏差测量方法。该测量方法包括测量多处单一位置的偏差，测得结果的平均值，并以平均值表征轴承的装配高偏差。测量单一位置的偏差时，将支撑块分两次放置在座圈下方，主动向座圈施加压力，使其向确定的方向偏摆，支撑块支撑座圈，座圈某一位置上方端面在轴向上会存在高点和低点，两次支撑块放置的位置径向相对，测量某一位置分别为高点和低点时的偏差δ<subgt;高</subgt;和δ<subgt;低</subgt;，计算δ<subgt;高</subgt;和δ<subgt;低</subgt;的平均值得到单一位置的偏差δ。本发明专利技术利用推力调心滚子轴承的调心偏摆的特性，主动驱使座圈摆动，以测量位置处于高点和低点状态时的偏差结果平均值表征单一位置的偏差，提高了检测精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于轴承高度计量，特别是涉及一种推力调心滚子轴承装配高偏差测量方法。

技术介绍

1、推力调心滚子轴承包括座圈、轴圈和滚动体，其能同时承受轴向载荷和径向载荷，并且具有自动调心功能，广泛用于工程机械领域。在生产装配推力调心滚子轴承的过程中，装配高偏差(测量实际高度和轴承公称高度尺寸的偏差)是关键的检测项目。

2、关于推力调心滚子轴承装配高的偏差检测，目前国家推荐标准(gb/t307.2-2005)中规定是将轴承成品平放在测量平台上，座圈的大端面朝上，并在座圈上加上盖板。在测量前先使用标准块标记测量表的初始零位，然后将测量表的探头贴到盖板的上表面上，并且尽量靠近座圈的中心位置。在测量时微调盖板，使盖板平行于测量平台，观察测量表的变化量(相对于初始零位)，这时测量的变化量即为轴承装配高的偏差。

3、但是，这种方法在测量时不同型号的轴承的座圈尺寸不同，需要针对每种型号配置专用的盖板，成本较高。而且，由于推力调心滚子轴承的自动调心特性，在调整盖板的过程中，座圈略微受力即会绕其滚道的球心偏摆，关键是偏摆的方向和角度是不确定的，因此检测过本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种推力调心滚子轴承装配高偏差测量方法，其特征在于，在检测时轴圈朝下放置在检测平台上，并将同一块支撑块分两次放置在座圈小端面的下方，两次放置的位置径向相对，每次放置在座圈小端面下方后向座圈施加压力，以使座圈小端面紧贴在支撑块上，利用检测仪器测量某一位置处于高点和低点时的装配高偏差δ高和δ低，计算δ高和δ低代数和的平均值，得到第一处单一位置的装配高偏差δ1；按照测量δ高和δ低的方法再测量至少两处单一位置的装配高偏差，得到δ2…δn(n≥3)；最后对多个单一位置的装配高偏差求平均值δ＝(δ1+δ2+…+δn)/n(n≥3)，求得的结果δ即为推力调心滚子轴承装配高偏差。

2.根...

【技术特征摘要】

1.一种推力调心滚子轴承装配高偏差测量方法，其特征在于，在检测时轴圈朝下放置在检测平台上，并将同一块支撑块分两次放置在座圈小端面的下方，两次放置的位置径向相对，每次放置在座圈小端面下方后向座圈施加压力，以使座圈小端面紧贴在支撑块上，利用检测仪器测量某一位置处于高点和低点时的装配高偏差δ高和δ低，计算δ高和δ低代数和的平均值，得到第一处单一位置的装配高偏差δ1；按照测量δ高和δ低的方法再测量至少两处单一位置的装配高偏差，得到δ2…δn(n≥3)；最后对多个单一位置的装配高偏差求平均值δ＝(δ1+δ2+…+δn)/n(n≥3)，求得的结果δ即为推力调心滚子轴承装配高偏差。

2.根据权利要求1所述的推力调心滚子轴承装配高偏差测量方法，其特征在于，支撑块的高度等于轴承公称高度尺寸t和座圈的高度c...

【专利技术属性】
技术研发人员：曲琼，王明杰，时可可，刘强，朱战旗，黄萌阳，李翠珍，康延辉，梁书聪，陈翠丽，董建军，朱碧然，杨勇，程翠超，孙嘉君，
申请(专利权)人：洛阳轴承集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：