【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于陶瓷加工,具体涉及一种酸相薄膜辅助激光加工氮化铝陶瓷的方法和系统。
技术介绍
1、随着无线电技术的快速发展,在微波和射频等高频段工作的设备以及电路朝着微型化、集成化方向发展。芯片作为设备工作的中枢,在工作过程中会产生大量的热,使得芯片的工作温度升高,严重影响设备的正常运转。目前最有效地方法是提高芯片的散热效率,在芯片封装结构上加工散热结构是主要的方法。
2、氮化铝(aln)陶瓷具有导热系数高、热膨胀系数低、介电常数低和高频下介电损耗低等优点,与beo相比无毒副作用,且与si膨胀系数相近,是理想的电子封装材料。
3、但是由于aln陶瓷的难加工性,目前aln陶瓷加工技术存在一定的局限性,如传统的机械加工容易使aln陶瓷薄层产生裂纹甚至破碎,并且刀具磨损严重,成本较高。
4、基于此,本领域逐渐开始选择无需刀具磨损的激光加工的方式处理aln陶瓷。然而激光加工也具有局限性,以激光-酸铣工艺为例,这种工艺虽然能够在一定程度上提高材料的加工效率,但是在加工过程中需要将aln陶瓷在化学场和激光能量场这两
...【技术保护点】
1.一种酸相薄膜辅助激光加工氮化铝陶瓷的方法,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述酸液为盐酸和/或硫酸;所述酸液的浓度为4~6mol/L,所述酸液的折射率为1.39~1.51。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述酸相薄膜的厚度为200~500μm。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,进行所述激光扫描时,所述酸液的温度为70~90℃。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述激光扫描前包括:根据激光焦点位移公式调节激光的聚焦平面。
6.根据权利要求5所述的方法
...【技术特征摘要】
1.一种酸相薄膜辅助激光加工氮化铝陶瓷的方法,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述酸液为盐酸和/或硫酸;所述酸液的浓度为4~6mol/l,所述酸液的折射率为1.39~1.51。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述酸相薄膜的厚度为200~500μm。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,进行所述激光扫描时,所述酸液的温度为70~90℃。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述激光扫描前包括:根据激光焦点位移公式调节激光的聚焦平面。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述激光焦点位移公式为:δf=l(1-1/n);其中,△f为激光焦点移动距离,l为酸相薄膜的厚度,n为酸液的折射率。
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【专利技术属性】
技术研发人员:陈妮,刘嘉伟,贾益博,肖何,赵俊熠,何宁,
申请(专利权)人:南京航空航天大学,
类型:发明
国别省市:
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