光学分析系统及光学分析方法技术方案

本发明专利技术公开一种光学分析系统与光学分析方法，其仅通过控制处理单元简单地变动发光单元的驱动电流，就可以让每一个发光单元产生的照射光线的波长范围及峰值波长被微调，接着，分时让不同的波长范围及峰值波长的多个照射光线照射待测物，便可以以较少的发光单元来提升待测物的光谱的检测分辨率与检测准确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种光学分析系统与光学分析方法的，特别是有关于一种能够提升待测物的光谱的检测分辨率与检测精确度的光学分析系统与光学分析方法，其中所述光学分析系统与光学分析方法是以不同驱动电流驱动每一个发光单元来对其产生的照射光线的波长范围与峰值波长微调，且所述光学分析系统与光学分析方法将不同峰值波长的复数个照射光线分时地照射待测物，以此提升待测物的光谱的检测分辨率。

技术介绍

1、现有的光学分析方法是通过水银灯，卤素灯或氖气灯等来提供一个宽波长范围的照射光线来检测待测物的光谱。此照射光线照射待测物后，会产生经过待测物的透射光线或由待测物反射的反射光线。接着，使用光学接收器将透射光线或反射光线接收后，针对光学接收器的产生的检测信号进行分析，即可以获取待测物的光谱(即，待测物的分析结果)。然而，上述做法会容易使得待测物因此发热，导致待测物变质与/或导致检测准确度下降。

2、另一种现有的光学分析方法是将水银灯或氖气灯替换为包括复数个发光二极管的光源装置，同时使用不同波长范围的发光二极管产生不同峰值波长的复数个照射光线来照射待测物，以产生检测光线。然本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光学分析系统，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的光学分析系统，其特征在于，该第一发光单元(101)以一第一明灭频率发光，该第二发光单元(102)以一第二明灭频率发光，其中该第一明灭频率与该第二明灭频率彼此相同或不相同。

3.如权利要求2所述的光学分析系统，其特征在于，该第一明灭频率与第二明灭频率是介于0.05次/秒至50000次/秒之间。

4.如权利要求3所述的光学分析系统，其特征在于，该第一明灭频率与第二明灭频率中开启该第一发光单元与第二发光单元(101、102)的时间区间为介于0.00001秒至10秒之间，以及该第一明灭频率与第二明...

【技术特征摘要】

1.一种光学分析系统，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的光学分析系统，其特征在于，该第一发光单元(101)以一第一明灭频率发光，该第二发光单元(102)以一第二明灭频率发光，其中该第一明灭频率与该第二明灭频率彼此相同或不相同。

3.如权利要求2所述的光学分析系统，其特征在于，该第一明灭频率与第二明灭频率是介于0.05次/秒至50000次/秒之间。

4.如权利要求3所述的光学分析系统，其特征在于，该第一明灭频率与第二明灭频率中开启该第一发光单元与第二发光单元(101、102)的时间区间为介于0.00001秒至10秒之间，以及该第一明灭频率与第二明灭频率中关闭该第一发光单元与第二发光单元(101、102)的时间区间为介于0.00001秒至10秒之间。

5.如权利要求1所述的光学分析系统，其特征在于，该第一至第四峰值波长(pw11、pw12、pw21、pw22)的相邻两者之间的一峰值波长差异值大于等于1纳米且小于等于80纳米。

6.如权利要求5所述的光学分析系统，其特征在于，该第一至第四峰值波长(pw11、pw12、pw21、pw22)的相邻两者之间的该峰值波长差异值大于等于5纳米且小于等于80纳米。

7.如权利要求1所述的光学分析系统，其特征在于，该第一至第四峰值波长(pw11、pw12、pw21、pw22)的相邻两者之间的一峰值波长差异值大于等于0.5纳米。

8.如权利要求1所述的光学分析系统，其特征在于，该第一至第四峰值波长(pw11、pw12、pw21、pw22)中至少一个对应的一波长半高宽为大于0纳米且小于或等于60纳米。

9.如权利要求8所述的光学分析系统，其特征在于，该第一至第四峰值波长(pw11、pw12、pw21、pw22)中至少一个对应的一波长半高宽为大于等于15纳米且小于或等于50纳米。

10.如权利要求9所述的光学分析系统，其特征在于，该第一至第四峰值波长(pw11、pw12、pw21、pw22)中至少一个对应的一波长半高宽为大于等于15纳米且小于或等于40纳米。

11.如权利要求1所述的光学分析系统，其特征在于，该第一发光单元与第二发光单元(101、102)的每一个为一发光二极管、一垂直共振腔面射型激光或一激光二极管。

12.如权利要求11所述的光学分析系统，其特征在于，该第一至第四检测光线(d11、d12、d21、d22)为该待测物(o)照射到该第一照射光线至第四照射光线(l11、l12、l21、l22)所分别产生的一第一至第四反射光线或一第一至第四透射光线。

13.如权利要求1所述的光学分析系统，其特征在于，还包括：

14.如权利要求13所述的光学分析系统，其特征在于，该均匀混合/分光元件为一遮蔽板(13)，该遮蔽板(13)设置于该光源装置(10)与该待测物(o)之间，且具有一透光孔(131)，以让该第一照射光线至第四照射光线(l11、l12、l21、l22)的每一个的该一部分通过而照射该待测物(o)，其中该第二光学接收器(14)设置于该遮蔽板(13)面向该光源装置(10)的一侧。

15.如权利要求13所述的光学分析系统，其特征在于，该均匀混合/分光元件为一光学积分球，该光学积分球包括一光入口、一第一光出口以及一第二光出口，该第一光学接收器(12)对准该第一光出口，该第二光学接收器(14)对准该第二光出口，其中该第一照射光线至第四照射光线(l11、l12、l21、l22)的每一个由该光入口进入该光学积分球，该第一照射光线至第四照射光线(l11、l12、l21、l22)的该一部分从该第一光出口出射，该第一照射光线至第四照射光线(l11、l12、l21、l22)的该另一部分从该第二光出口出射；或者，其中该均匀混合/分光元...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁逸圣，徐国伟，
申请(专利权)人：大连兆晶生物科技有限公司，
类型：发明
国别省市：