激光对焦方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:41460729 阅读:25 留言:0更新日期:2024-05-28 20:46
本申请实施例提供了一种激光对焦方法、装置、设备及可读存储介质,属于光学成像技术领域。其中方法包括:传感器将待测物的第一光信号和扰动信号转换为第一数字信号;采样器采集第一数字信号,并与期望亮度信号比较获取误差信号;低通滤波器获取误差信号中的低频误差信号,低频误差信号包括高反射低频误差信号、低反射低频误差信号和多层低频误差信号;超前滞后校正器根据低频误差信号的类型构建校正网络,校正网络输出第二数字信号,并根据第二数字信号完成对焦。通过对待测物表面高反射、低反射和多层等复杂表面产生不同的误差信号类型,设计校正网络消除干扰信号,确保在各种复杂环境下闭环控制系统更快速、稳定和准确完成激光对焦。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及光学成像领域,尤其涉及一种激光对焦方法、装置、设备及可读存储介质


技术介绍

1、在工业对焦实践中,面临着两大技术难题。首先,如何更有效地调整激光亮度以应对待测物表面高反射、黑色、多层等复杂环境的挑战下完成激光对焦,其次,如何确保光斑亮度在扰动信号下能够自适应焦面移动,以维持对焦过程的连贯性和效率。


技术实现思路

1、为了解决上述技术问题,本申请实施例提供了一种激光对焦方法、装置、设备及可读存储介质。

2、第一方面,本申请实施例提供了一种激光对焦方法,所述方法包括:

3、传感器将待测物的第一光信号和扰动信号转换为第一数字信号;

4、采样器采集所述第一数字信号,并将所述第一数字信号与期望亮度信号比较获取误差信号;

5、低通滤波器获取误差信号中的低频误差信号,所述低频误差信号的类型包括高反射低频误差信号、低反射低频误差信号和多层低频误差信号;

6、超前滞后校正器根据所述低频误差信号的类型构建校正网络,所述校正网络输出第二数字信号;

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种激光对焦方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述低通滤波器获取所述误差信号中的低频误差信号,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述超前滞后校正器根据所述低频误差信号的类型构建校正网络,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述低反射低频误差信号构建超前校正网络,包括:

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述高反射低频误差信号构建滞后校正网络,包括:

6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述多层低频误差信号构建滞后超前...

【技术特征摘要】

1.一种激光对焦方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述低通滤波器获取所述误差信号中的低频误差信号,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述超前滞后校正器根据所述低频误差信号的类型构建校正网络,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述低反射低频误差信号构建超前校正网络,包括:

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述高反射低频误差信号构建滞后校正网络,包括:

6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,...

【专利技术属性】
技术研发人员:请求不公布姓名请求不公布姓名
申请(专利权)人:江苏慕藤光精密光学仪器有限公司
类型:发明
国别省市:

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