一种对射型激光2D形位测量仪及检测方法技术

本申请涉及光线检测的技术领域，尤其是涉及一种对射型激光2D形位测量仪及检测方法，应用于被测件，其包括：发光部、收光部和平面测量模块；发光部和收光部之间通过对位算法后保持平行对向设置的标定位置，发光部用于向收光部分别发射具有第一夹角的第一激光束和第二激光束；收光部用于获取第一切点坐标和第二切点坐标；平面测量模块用于获取第一切点坐标和第二切点坐标，并结合第一夹角和预设的理想边缘位置坐标计算出被测件的边缘横向偏移量和竖直高度。本申请可以提高对出现起伏褶皱边缘的平面被测件的2D形位检测效果。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及光线检测的，尤其是涉及一种对射型激光2d形位测量仪及检测方法。

技术介绍

1、工业生产中，柔软的带材一般通过辊筒卷绕方式进行生产和后加工。在辊筒卷绕过程中，由于生产材料受不可控力的作用，使得带材不能按照原有的平行直线运动，导致其中心偏离基准中心线，在放卷、收卷、传送时产生左右方向的偏移，如果不对这种偏移及时进行纠正，就会直接影响产品的质量。因此该类工况中需要对卷绕材料实时进行边缘位置检测以控制其运动的平稳性，同时还要检测带材边缘破损情况。

2、目前工业应用中通常采用以下方法进行控制和检测：

3、1.采用对射型线激光的边缘检测类仪器，该仪器测试端分为发光部和收光部两部分，发光部发出平行的线激光，收光部一般为线阵图像类传感器形成的光接收器，使用时将薄膜边缘置于光路中部，通过薄膜挡光在收光部形成高低不同的像素能量分布，通过高低信号的边缘处理可以计算得到薄膜的边缘位置，但该技术方案只能检测薄膜边缘在辊筒轴方向的位移，一旦薄膜发生边缘起伏褶皱，则会影响边缘检测的结果，造成系统误判，同时，在一些情况下卷绕材料的边缘起伏也是要控制的，此本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种对射型激光2D形位测量仪，应用于被测件(3)，其特征在于，包括发光部(1)、收光部(2)和平面测量模块；

2.根据权利要求1所述的对射型激光2D形位测量仪，其特征在于，还包括对位误差计算模块，其用于检测所述发光部(1)和所述收光部(2)之间的对位误差量，并基于所述对位算法计算出位姿调整量以对所述发光部(1)和/或收光部(2)进行位姿调节，其中，所述对位误差包括x-z平面内平移误差和绕x-y-z轴旋转误差，所述x轴表征为第一激光束的宽度方向，所述y轴表征为所述第一激光束的高度方向，所述z轴表征为垂直于所述第一激光束的方向。

3.根据权利要求2所述的对射型激光...

【技术特征摘要】

1.一种对射型激光2d形位测量仪，应用于被测件(3)，其特征在于，包括发光部(1)、收光部(2)和平面测量模块；

2.根据权利要求1所述的对射型激光2d形位测量仪，其特征在于，还包括对位误差计算模块，其用于检测所述发光部(1)和所述收光部(2)之间的对位误差量，并基于所述对位算法计算出位姿调整量以对所述发光部(1)和/或收光部(2)进行位姿调节，其中，所述对位误差包括x-z平面内平移误差和绕x-y-z轴旋转误差，所述x轴表征为第一激光束的宽度方向，所述y轴表征为所述第一激光束的高度方向，所述z轴表征为垂直于所述第一激光束的方向。

3.根据权利要求2所述的对射型激光2d形位测量仪，其特征在于，还包括平面标定件(4)、高度标定模块、水平标定模块和角度标定模块，所述平面标定件(4)位于所述发光部(1)和所述收光部(2)之间，且沿水平方向和竖直方向移动，所述水平标定模块用于接收所述平面标定件(4)在水平位置移动时对应的多组图像中平面标定件(4)的偏移距离，所述高度标定模块用于根据所述偏移距离计算出多组图像中平面标定件(4)距离所述收光部(2)的垂直距离，所述角度标定模块用于根据所述偏移距离计算出所述第一激光束和所述第二激光束之间标定的所述第一角度。

4.根据权利要求1所述的对射型激光2d形位测量仪，其特征在于，还包括圆柱测量模块，在所述被测件(3)为圆柱形时，所述发光部(1)向所述收光部(2)分别发射第一激光束和第二激光束，所述收光部(2)获取第三切点坐标、第四切点坐标、第五切点坐标和第六切点坐标，其中，所述第三切点表征...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈权，陈特，
申请(专利权)人：浙江锐鹰传感技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：