数控系统中针对轮廓探测实现自动摆正处理的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种数控系统中针对轮廓探测实现自动摆正处理的方法，包括以下步骤：预先提取探测所得刀路文件中的点集信息，生成原始点集；根据所得点集数据进行自动摆正。该步骤具体包括以下步骤：对原始点集进行凸包处理，生成新的凸包点集；对凸包点集进行选点，生成摆正所需要的摆正点集；利用摆正点集计算摆正角度；利用摆正角度对原始点集进行关于其图形中心的旋转；将旋转后所得到的点集合并操作来生成合并刀路。本发明专利技术还涉及一种用于实现数控系统中针对轮廓探测进行自动摆正处理的装置、处理器及其计算机可读存储介质。采用了本发明专利技术的数控系统中针对轮廓探测实现自动摆正处理的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质，能够有效避免探测刀路倾斜导致合并后的刀路不美观的问题，使得合并后的效果更加美观。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及自动化控制领域，尤其涉及工件的轮廓探测领域，具体是指一种数控系统中针对轮廓探测实现自动摆正处理的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质。

技术介绍

1、轮廓探测功能是用来测量工件的轮廓，通过小线段将各点连接成多义线，以此作为加工轨迹。

2、常见的加工工件有盆和面板，因为需要将切合好的盆和面板进行拼接以完成洗手台的加工，但盆的刀路是由探测得出，若在探测时，盆未摆正导致探测所得的刀路有一些倾斜，则不能将盆刀路与面板刀路直接进行合并，需要将盆文件摆正后再与面板文件进行合并操作，否则会导致最终的加工完成的洗手台不美观。

技术实现思路

1、本专利技术的目的是克服了上述现有技术的缺点，提供了一种满足准确度高、效果美观、适用范围较为广泛的数控系统中针对轮廓探测实现自动摆正处理的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质。

2、为了实现上述目的，本专利技术的数控系统中针对轮廓探测实现自动摆正处理的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质如下：

3、该数控系统中针对轮廓探测实现本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种数控系统中针对轮廓探测实现自动摆正处理的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的数控系统中针对轮廓探测实现自动摆正处理的方法，其特征在于，所述的步骤(2)具体包括以下步骤：

3.根据权利要求2所述的数控系统中针对轮廓探测实现自动摆正处理的方法，其特征在于，所述的步骤(2.2)中分区域集中选点或均匀选点的选点策略来对凸包点集进行选点，具体为：

4.根据权利要求2所述的数控系统中针对轮廓探测实现自动摆正处理的方法，其特征在于，所述的步骤(2.3)中通过外接矩形面积最小法或梯度下降法来计算摆正角度，具体为：

5...

【技术特征摘要】

1.一种数控系统中针对轮廓探测实现自动摆正处理的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的数控系统中针对轮廓探测实现自动摆正处理的方法，其特征在于，所述的步骤(2)具体包括以下步骤：

3.根据权利要求2所述的数控系统中针对轮廓探测实现自动摆正处理的方法，其特征在于，所述的步骤(2.2)中分区域集中选点或均匀选点的选点策略来对凸包点集进行选点，具体为：

4.根据权利要求2所述的数控系统中针对轮廓探测实现自动摆正处理的方法，其特征在于，所述的步骤(2.3)中通过外接矩形面积最小法或梯度下降法来计算摆正角度，具体为：

5.根据权利要求2所述的数控系统中针对轮廓...

【专利技术属性】
技术研发人员：高立，张鹏，赵东京，
申请(专利权)人：上海维宏电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：