X射线掩日探测中高层大气密度的太阳视场角数值抑制方法及系统技术方案

技术编号:41436687 阅读:16 留言:0更新日期:2024-05-28 20:31
本发明专利技术属于空间环境探测技术领域,尤其涉及X射线掩日探测中高层大气密度的太阳视场角数值抑制方法及系统,该方法包括:将大气层按照海拔高度均匀分层,以大气模型计算获得的大气密度作为初值,利用比尔定律生成忽略视场角的以切点高度为自变量的点光源透过率;结合太阳图像对日面进行分层处理;基于点光源透过率函数和日面分层处理结果生成有视场角影响的透过率函数;利用透过率函数对卫星实测数据进行拟合,求解大气密度。该方法通过对日面分层处理,将太阳视场角的影响纳入到X射线掩日的光变曲线的模型中,从而突破太阳视场角对大气密度反演垂直分辨率的限制。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于空间环境探测,尤其涉及x射线掩日探测中高层大气密度的太阳视场角数值抑制方法及系统。


技术介绍

1、60-250km中高层大气密度全球探测对于地球圈层耦合能量传输机制研究,以及空天飞行器的设计、飞行控制等具有极其重要的价值。近年来中国科学院国家空间科学中心利用x射线掩星/掩日手段突破了中高层大气密度层析探测技术,并利用太阳系外天体x射线掩星的天文卫星数据进行了验证。然而来自太阳系外的x射线天体辐射较弱,实施x射线能谱测量需要至少百cm2的有效探测面积,造成有效载荷研制成本高、资源占用大。太阳是近地空间能够探测到的最强的x射线天体,探测来自太阳的x射线能谱会显著降低有效载荷在重量、功耗和体积等方面的资源需求。但太阳不同于太阳系外的天体,近地轨道卫星观测时具有约32arcmin的视场角,导致掩日时来自太阳不同位置光子的切点高度相对太阳中心有至少约±11km的偏差,限制了大气密度反演的垂直分辨率。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于克服现有技术缺陷,提出了x射线掩日探测中高层大气密度的太阳视场角数值本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种X射线掩日探测中高层大气密度的太阳视场角数值抑制方法,包括:

2.根据权利要求1所述的X射线掩日探测中高层大气密度的太阳视场角数值抑制方法,其特征在于,所述步骤1)中大气模型包括nrlmsise大气模型和nrlmsise00大气模型。

3.根据权利要求1所述的X射线掩日探测中高层大气密度的太阳视场角数值抑制方法,其特征在于,所述步骤1)的点光源透过率t0(H)为:

4.根据权利要求1所述的X射线掩日探测中高层大气密度的太阳视场角数值抑制方法,其特征在于,所述步骤2)包括:将太阳等效作一发光圆盘,将日面分成平行于地平线方向n层

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【技术特征摘要】

1.一种x射线掩日探测中高层大气密度的太阳视场角数值抑制方法,包括:

2.根据权利要求1所述的x射线掩日探测中高层大气密度的太阳视场角数值抑制方法,其特征在于,所述步骤1)中大气模型包括nrlmsise大气模型和nrlmsise00大气模型。

3.根据权利要求1所述的x射线掩日探测中高层大气密度的太阳视场角数值抑制方法,其特征在于,所述步骤1)的点光源透过率t0(h)为:

4.根据权利要求1所述的x射线掩日探测中高层大气密...

【专利技术属性】
技术研发人员:高正阳李保权
申请(专利权)人:中国科学院国家空间科学中心
类型:发明
国别省市:

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