【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本公开总体上涉及使用结构的多音稳态激励来检查结构的领域。
技术介绍
0、技术背景
1、结构的稳态波场测量可用于识别结构中的缺陷。然而，对结构的这种检查可能无法识别小于所使用的波长量级的缺陷。结构的瞬态波场测量可用于识别此类小缺陷，但结构的瞬态波场测量可能是耗时的。
技术实现思路
1、本公开涉及检查结构。可使用多个激励频率在结构中产生初步声激励。可获得所述结构中的所述初步声激励的测量。可基于所述结构中的所述初步声激励的所述测量和/或其他信息而选择所述多个激励频率的子集来用于检查所述结构。可使用多个激励频率的子集在结构中产生检查声激励。可获得所述结构中的所述检查声激励的测量。可基于所述结构中的所述检查声激励的所述测量和/或其他信息而确定所述结构的一个或多个性质。
2、一种检查结构的系统可包括一个或多个电子存储装置、一个或多个声激励装置、一个或多个声测量装置、一个或多个处理器和/或其他部件。所述电子存储装置可存储与结构相关的信息、结构中的初步声激励、激励频率的选择、结构中...
【技术保护点】
1.一种用于检查结构的方法，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其中所述结构中的所述初步声激励包括所述结构中的初步稳态声激励，并且所述结构中的所述检查声激励包括所述结构中的检查稳态声激励。
3.如权利要求1所述的方法，其中所述结构中的所述初步声激励的所述测量包括所述结构中的所述初步声激励的部分测量，并且所述结构中的所述检查声激励的所述测量包括所述结构中的所述检查声激励的全部测量。
4.如权利要求1所述的方法，其中所述结构中的所述初步声激励的所述测量包括所述结构中的速度响应的测量。
5.如权利要求4所述的方法，其中...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于检查结构的方法，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其中所述结构中的所述初步声激励包括所述结构中的初步稳态声激励，并且所述结构中的所述检查声激励包括所述结构中的检查稳态声激励。
3.如权利要求1所述的方法，其中所述结构中的所述初步声激励的所述测量包括所述结构中的所述初步声激励的部分测量，并且所述结构中的所述检查声激励的所述测量包括所述结构中的所述检查声激励的全部测量。
4.如权利要求1所述的方法，其中所述结构中的所述初步声激励的所述测量包括所述结构中的速度响应的测量。
5.如权利要求4所述的方法，其中基于所述结构中的所述初步声激励的所述测量而选择所述多个激励频率的所述子集来用于检查所述结构包括基于所述结构中的所述速度响应的汇总统计而选择所述多个激励频率的所述子集。
6.如权利要求1所述的方法，其中基于所述结构中的所述检查声激励的所述测量而确定所述结构的所述一个或多个性质包括：...
【专利技术属性】
技术研发人员：A·H·罗特，E·B·福莱恩，A·J·沃彻特，E·M·雅各布森，I·T·卡明斯，R·F·德尚姆斯，R·K·M·谢，
申请(专利权)人：雪佛龙美国公司，
类型：发明
国别省市：
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