【技术实现步骤摘要】
本技术属于硅片分选,具体来说,涉及一种硅片快速检测分选装置。
技术介绍
1、元素硅是一种灰色、易碎、四价的非金属化学元素,硅晶片又称晶圆片,是由硅锭加工而成的,通过专门的工艺可以在硅晶片上刻蚀出数以百万计的晶体管,被广泛应用于集成电路的制造,硅片的分选分两大部份:外观检查(即崩边、缺角、花片、破片类的目视);仪器检测(电阻检测、ttv检测及厚度检测)。
2、对硅片的厚度进行检测分选时,现有技术一般是采用手动测量的方式,效率较低,一些技术方案则是使用一些电子测量的手段,但在使用的过程中需要人工的来对硅片进行摆放和分选,难以实现检测和分选的自动化,因而导致其的检测分选效率仍旧较低。
3、针对相关技术中的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
4、因此为了解决以上问题,本技术提供了一种硅片快速检测分选装置。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种硅片快速检测分选装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种
...【技术保护点】
1.一种硅片快速检测分选装置,其特征在于,包括装置主体(1),所述装置主体(1)的底端安装有底板(2),所述底板(2)的一侧安装有一组控制器(3),所述底板(2)的顶端安装有两组安装板(4),两组所述安装板(4)的一侧安装有一组扭矩传感器(402),所述扭矩传感器(402)的一侧转动安装有一组转动杆(403),所述转动杆(403)上套接安装有一组扭簧(404),所述转动杆(403)上固定安装有一组连接杆(405),所述连接杆(405)的底端安装有一组伸缩杆(406),所述伸缩杆(406)上螺纹安装有一组紧固螺栓(407),所述伸缩杆(406)的伸缩端安装有一组连接板(
...【技术特征摘要】
1.一种硅片快速检测分选装置,其特征在于,包括装置主体(1),所述装置主体(1)的底端安装有底板(2),所述底板(2)的一侧安装有一组控制器(3),所述底板(2)的顶端安装有两组安装板(4),两组所述安装板(4)的一侧安装有一组扭矩传感器(402),所述扭矩传感器(402)的一侧转动安装有一组转动杆(403),所述转动杆(403)上套接安装有一组扭簧(404),所述转动杆(403)上固定安装有一组连接杆(405),所述连接杆(405)的底端安装有一组伸缩杆(406),所述伸缩杆(406)上螺纹安装有一组紧固螺栓(407),所述伸缩杆(406)的伸缩端安装有一组连接板(408),所述连接板(408)的底端中部安装有一组测距仪(409),所述连接板(408)的底端一侧安装有一组滚轮(410),其中一组所述安装板(4)的一侧安装有一组第一到位传感器(411),所述底板(2)的顶端安装有一组第一输送设备(5),所述第一输送设备(5)的顶端安装有两组固定板(7),其中一组所述固定板(7)的一侧安装有一组电机(701),所述电机(701)的输出端固定套接有一组导向板(702),其中一组所述固定板(7)的一侧安装有一组第二到位传感器(703)。
2.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴芳,姜玲玲,吴平,陈志涵,
申请(专利权)人:江阴华超新能源有限公司,
类型:新型
国别省市:
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