一种继电器测试装置制造方法及图纸

技术编号:41411187 阅读:26 留言:0更新日期:2024-05-20 19:38
本技术提供一种继电器测试装置,包括:第二电源、双向开关、第一/第二控制组件与容性负载电路;第二电源通过双向开关与第一/第二控制组件串联,形成第一/第二控制回路;第一控制组件包括:第一继电器,第二控制组件包括:第二继电器;第一控制回路通过第一继电器耦合连接被测继电器电路,用于控制导通被测继电器电路;第二控制回路通过第二继电器耦合连接容性负载电路,用于控制导通容性负载电路;容性负载通过被测继电器耦合连接被测继电器电路,形成放电回路。本装置通过切换控制双向开关,即可实现对被测继电器电路与容性负载电路的两个主电路的双向切换控制,通过切换控制即可在一个装置中完成对继电器的两种测试,装置集成度较高。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及继电器测试,具体涉及一种继电器测试装置


技术介绍

1、随着电子技术的发展,继电器应用领域越来越广,包括用于通讯及信号控制的信号继电器,用于家用、工业控制和电力控制的功率继电器,用于电力控制的电力继电器以及用于汽车领域的汽车继电器。

2、为了确保继电器的可靠性、持久性需要专门的装置在大电流下对继电器触点进行寿命测试,例如:机械寿命测试装置、冲击寿命测试装置。其中,机械寿命测试装置通过控制继电器动作使其开关通断、然后对通断次数进行计数、用于测试继电器的机械寿命的,冲击寿命测试装置通过阻性负载、感性负载或容性负载对继电器进行浪涌冲击测试。

3、但是上述现有继电器测试装置均只能实现单一的测试功能,相应的测试装置集成度较低,在实际测试中,需要分别采用不同的装置对继电器的机械寿命、浪涌冲击进行单独的测试,进而影响整个继电器测试流程的效率。


技术实现思路

1、本技术的目的在于克服现有继电器测试装置均只能实现单一的测试功能、集成度较低的问题,提出一种继电器测试装置,本技术所提供的测试装置通本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种继电器测试装置,用于与被测继电器电路连接,所述被测继电器电路包括:第一电源与被测继电器,所述第一电源用于为所述被测继电器上电,其特征在于,

2.如权利要求1所述的继电器测试装置,其特征在于,所述第一继电器包括:第一线圈与第一触点组;

3.如权利要求1所述的继电器测试装置,其特征在于,所述第二继电器包括:第二线圈与第二触点组;

4.如权利要求1所述的继电器测试装置,其特征在于,所述被测继电器包括:被测线圈与被测触点组;所述容性负载用于与所述被测继电器的被测触点组串联形成所述放电回路。

5.如权利要求4所述的继电器测试装置,其特征在于,...

【技术特征摘要】

1.一种继电器测试装置,用于与被测继电器电路连接,所述被测继电器电路包括:第一电源与被测继电器,所述第一电源用于为所述被测继电器上电,其特征在于,

2.如权利要求1所述的继电器测试装置,其特征在于,所述第一继电器包括:第一线圈与第一触点组;

3.如权利要求1所述的继电器测试装置,其特征在于,所述第二继电器包括:第二线圈与第二触点组;

4.如权利要求1所述的继电器测试装置,其特征在于,所述被测继电器包括:被测线圈与被测触点组;所述容性负载用于与所述被测继电器的被测触点组串联形成所述放电回路。

5.如权利要求4所述的继电器测试装置,其特征在于,还包括:第一限流电阻;所述第一限流电阻串接在所述放电回路中。

6.如权利要求4所述的继电器测试装置,其特征在于,还包括:电压测量单元,所述电压测量单元设置...

【专利技术属性】
技术研发人员:付望徐尚伟张国江
申请(专利权)人:惠州亿纬锂能股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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