【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及存储介质，并且更具体地，涉及用于使读操作同步的系统和方法。
技术介绍
典型的存储介质包括可以存储数据的多个存储位置。通过将读/写头组件定位在 存储介质上方的选定位置处，并且随后使调制电流通过该头组件使得在该存储介质中感应 对应的磁通量模式(magnetic flux pattern)，从而将数据写入该介质的指定给用户数据 的区域内。为了取回所存储的数据，将该头组件定位在包含期望信息的轨道上方并前移，直 到它位于所期望的数据上方。先前存储的磁通量模式用于在该头组件中感应电流，然后可 以将感应的电流转换为代表原始记录数据的电信号。通过包括伺服数据的楔(wedge)将存储介质上的用户数据区分开。该伺服数据包 括地址和其它位置信息。一旦识别出期望位置，就可以读取该伺服数据之后的用户数据。该 用户数据不一定与伺服数据同步，并且同样地，在直接跟随伺服数据的用户数据区内可以 包括同步模式(synchronization pattern)。在典型情况中，同步模式可包括非常大量的位 以使得能够进行精确的相位和频率调整。增加专用于同步模式的位的数量会提高相位和频 率...
【技术保护点】
一种用于精确处理从存储介质得到的用户数据的位密度有效系统，所述系统包括：存储介质，其包括数据序列，其中所述数据序列包括用户数据区，并且其中所述用户数据区包括第一同步模式和与第一同步模式相距一定距离的第二同步模式；存储缓冲区，其中所述存储缓冲区可操作用于接收该数据序列的至少一部分；再定时电路，其中所述再定时电路可操作用于使用所述第一同步模式的第一位置和所述第二同步模式的第二位置计算所述存储缓冲区内的定义的位的初始相位偏离和频率偏离；以及误差校正环电路，其中所述误差校正环电路至少部分基于所述初始相位偏离和频率偏离从所述存储缓冲区再采样所述数据序列。
【技术特征摘要】
US 2009-7-2 12/496,787一种用于精确处理从存储介质得到的用户数据的位密度有效系统，所述系统包括存储介质，其包括数据序列，其中所述数据序列包括用户数据区，并且其中所述用户数据区包括第一同步模式和与第一同步模式相距一定距离的第二同步模式；存储缓冲区，其中所述存储缓冲区可操作用于接收该数据序列的至少一部分；再定时电路，其中所述再定时电路可操作用于使用所述第一同步模式的第一位置和所述第二同步模式的第二位置计算所述存储缓冲区内的定义的位的初始相位偏离和频率偏离；以及误差校正环电路，其中所述误差校正环电路至少部分基于所述初始相位偏离和频率偏离从所述存储缓冲区再采样所述数据序列。2.根据权利要求1的系统，其中所述再定时电路包括第一位置计算电路，其中所述第一位置计算电路可操作用于确定与所述第一同步模式 相对应的第一位置；第二位置计算电路，其中所述第二位置计算电路可操作用于确定与所述第二同步模式 相对应的第二位置；频率偏离计算电路，其中所述频率偏离计算电路可操作用于至少部分基于所述第一位 置和所述第二位置计算频率偏离；以及初始相位偏离电路，其中所述初始相位偏离电路可操作用于至少部分基于所述频率偏 离计算初始相位偏离。3.根据权利要求2的系统，其中根据下列公式进行对所述频率偏离的计算频率偏离J 二位置距离第一位置]ο4.根据权利要求3的系统，其中根据下列公式进行对所述初始相位偏离的计算 初始相位偏离=第一位置_(位周期)频率偏离，其中，所述位周期对应于从所述初始相位偏离对应的所述第一位置开始的位周期数。5.根据权利要求2的系统，其中所述第一位置计算电路包括同步检测器电路，其中所述同步检测器电路可操作用于检测所述第一同步模式；以及 位置计算电路，其中所述位置检测电路计算由所述同步检测器电路检测到所述第一同 步模式的位置。6.根据权利要求1的系统，其中所述再定时电路包括窗口信号电路，其中所述窗口信号电路可操作用于识别所述第一同步模式预期在所述 数据序列内的第一窗口，并且其中所述窗口信号电路可操作用于识别所述第二同步模式预 期在所述数据序列内的第二窗口。7.根据权利要求1的系统，其中所述误差校正环电路包括数字锁相环电路，其中所述数字锁相环电路接收所述初始相位偏离和所述频率偏离， 并且提供逐个位周期更新的相移输出；以及内插器电路，其中所述内插器电路内插从所述存储缓冲区访问的所述数据序列。8.根据权利要求7的系统，其中在被所述内插器电路内插之前，将从所述存储缓冲区 访问的所述数据序列乘以增益校正因数。9.根据权利要求7的系统，其中所述误差校正环电路还包括数据检测器电路，其中对从所述内插器电路得到的...
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