【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及质谱仪器，具体涉及一种可程序升温的变温式热解析进样电离系统及质谱仪器。
技术介绍
1、质谱是一种电离化学物质并在气相中使用电场和磁场将离子按质荷比分离后进行检测的高灵敏度分析方法。
2、大气压化学电离源是小型质谱仪最常使用的电离源之一，该类型的电离源使用热解析进样方式，即利用热解析进样器的温度使液态样品蒸发为气态，随后在电离源的作用下电离为带电离子。目前大气压化学电离源搭配的热解析进样器多为恒温式热解析进样器，其可通过加热片/加热棒等加热装置使进样器维持在固定温度。
3、由于进样器结构、材料的耐温性及热输出效率的限制，恒温式热解析进样器产生的温度无法快速覆盖所需检测样品的熔沸点，并稳定兼顾低熔沸点和高熔沸点样品，以保证检测精度和检测能力。
技术实现思路
1、本专利技术所要解决或至少部分解决的技术问题在于，基于大气压化学电离的恒温式热解析进样系统产生的温度无法快速覆盖所需检测样品的熔沸点，并稳定兼顾低熔沸点和高熔沸点样品，以保证检测精度和检测能力。同时当检测样品浓度较高时，恒温式热解析进样器存在污染难以清除的问题。
2、本专利技术提供了一种可程序升温的变温式热解析进样电离系统，包括：
3、机壳；
4、加热组件，安装在所述机壳内，所述加热组件构造形成有进样腔，所述进样腔适于收容热解析的样品；
5、冷却结构，安装在所述机壳内，所述冷却结构邻接所述加热组件外侧设置，所述冷却结构具有靠近所述加热组件的第一状
6、电离源，其为大气压化学电离源，设置于适于与所述进样腔连通的电离腔内；
7、以及控制器，所述控制器和所述加热组件电性连接，以控制所述加热组件的加热温度；所述控制器和所述冷却结构电性连接，以控制所述冷却结构和所述加热组件间的距离。
8、可选地，所述加热组件包括第一加热件和第二加热件，所述第一加热件和所述第二加热件共同围合形成所述进样腔。
9、可选地，所述第一加热件和所述第二加热件呈上下对称设置，所述冷却结构设置有两个，两个所述冷却结构对称设置于所述加热组件两侧。
10、可选地，所述冷却结构包括制冷件、散热件和驱动器，所述制冷件和所述散热件导热连接，所述制冷件适于制冷形成温差区域，所述散热件设置在所述制冷件远离所述进样腔的一侧，所述驱动器的安装端和所述机壳固定设置，所述制冷件设置在所述驱动器的驱动端，所述驱动器和所述控制器电性连接，所述驱动器用于驱动所述制冷件靠近抵接所述加热组件或驱动所述制冷件远离所述加热组件。
11、可选地，所述制冷件设置为半导体制冷片，所述半导体制冷片具有冷端侧和热端侧，所述冷端侧朝向所述加热组件设置，所述热端侧背离所述加热组件设置，所述热端侧和所述散热件相接；
12、所述冷却结构还包括风扇，所述风扇设置在所述机壳内，所述风扇的出风侧朝向所述散热件设置，所述风扇和所述控制器电性连接。
13、可选地，所述驱动器配置为伸缩驱动件，所述伸缩驱动件的安装端和所述机壳固定设置，所述伸缩驱动件的伸缩端和所述散热件相连。
14、可选地，所述冷却结构还包括热管，所述热管导热设置在所述制冷件和所述散热件之间。
15、可选地，所述进样腔设置有进样口，所述进样口设置为方形或圆形；和/或
16、所述控制器用于控制所述加热组件将所述进样腔在2-30s内加热至设定温度，所述进样腔温度设置在50-300℃。
17、一种质谱仪器，包括上述的可程序升温的变温式热解析进样电离系统，所述可程序升温的变温式热解析进样电离系统具有进样腔和电离腔。
18、可选地，所述质谱仪器还包括样品通道，所述样品通道用于连通所述进样腔和所述电离腔。
19、本专利技术提供的技术方案，具有如下优点：
20、本专利技术可通过温度控制程序使进样腔的温度实现程序升温，在进样腔温度升高的过程中，挥发性好的样品优先挥发，熔沸点高的样品后解析挥发。一方面可以使挥发性不同的样品通过进样器温度变化实现初步预分离；另一方面样品按挥发性的不同先后到达电离区，也有助于降低电离过程中不同物质之间的相互干扰和电离竞争。同时系统中还增加制冷片，当进样器温度达到最高温度后，通过程序控制开启制冷片，可以使进样腔体温度快速下降，进一步实现进样腔体问题升降温的可控性。本专利技术能够快速覆盖所需检测样品的熔沸点，并稳定兼顾低熔沸点和高熔沸点样品，以保证检测精度和检测能力。若检测样品浓度较高时，在检测完成后，通过程序控制将进样器温度设置到最高以进行进样腔体的清洁工作，减少下次进样检测的污染问题。
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1.一种可程序升温的变温式热解析进样电离系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的可程序升温的变温式热解析进样电离系统，其特征在于，所述加热组件(1)包括第一加热件(11)和第二加热件(12)，所述第一加热件(11)和所述第二加热件(12)共同围合形成所述进样腔。
3.根据权利要求2所述的可程序升温的变温式热解析进样电离系统，其特征在于，所述第一加热件(11)和所述第二加热件(12)呈上下对称设置，所述冷却结构(2)设置有两个，两个所述冷却结构(2)对称设置于所述加热组件(1)两侧。
4.根据权利要求3所述的可程序升温的变温式热解析进样电离系统，其特征在于，所述冷却结构(2)包括制冷件(21)、散热件(22)和驱动器(23)，所述制冷件(21)和所述散热件(22)导热连接，所述制冷件(21)适于制冷形成温差区域，所述散热件(22)设置在所述制冷件(21)远离所述进样腔的一侧，所述驱动器(23)的安装端和所述机壳固定设置，所述制冷件(21)设置在所述驱动器(23)的驱动端，所述驱动器(23)和所述控制器(3)电性连接，所述驱动器(23)用
5.根据权利要求4所述的可程序升温的变温式热解析进样电离系统，其特征在于，所述制冷件(21)设置为半导体制冷片，所述半导体制冷片具有冷端侧和热端侧，所述冷端侧朝向所述加热组件(1)设置，所述热端侧背离所述加热组件(1)设置，所述热端侧和所述散热件(22)相接；
6.根据权利要求4所述的可程序升温的变温式热解析进样电离系统，其特征在于，所述驱动器(23)配置为伸缩驱动件，所述伸缩驱动件的安装端和所述机壳固定设置，所述伸缩驱动件的伸缩端和所述散热件(22)相连。
7.根据权利要求4所述的可程序升温的变温式热解析进样电离系统，其特征在于，所述冷却结构(2)还包括热管(25)，所述热管(25)导热设置在所述制冷件(21)和所述散热件(22)之间。
8.根据权利要求1所述的热解析进样电离系统，其特征在于，所述进样腔设置有进样口，所述进样口设置为方形或圆形；和/或
9.一种质谱仪器，其特征在于，包括权利要求1-8任一项所述的可程序升温的变温式热解析进样电离系统，所述可程序升温的变温式热解析进样电离系统具有进样腔和电离腔(5)。
10.根据权利要求9所述的质谱仪器，其特征在于，所述质谱仪器还包括样品通道(4)，所述样品通道(4)用于连通所述进样腔和所述电离腔(5)。
...【技术特征摘要】
1.一种可程序升温的变温式热解析进样电离系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的可程序升温的变温式热解析进样电离系统，其特征在于，所述加热组件(1)包括第一加热件(11)和第二加热件(12)，所述第一加热件(11)和所述第二加热件(12)共同围合形成所述进样腔。
3.根据权利要求2所述的可程序升温的变温式热解析进样电离系统，其特征在于，所述第一加热件(11)和所述第二加热件(12)呈上下对称设置，所述冷却结构(2)设置有两个，两个所述冷却结构(2)对称设置于所述加热组件(1)两侧。
4.根据权利要求3所述的可程序升温的变温式热解析进样电离系统，其特征在于，所述冷却结构(2)包括制冷件(21)、散热件(22)和驱动器(23)，所述制冷件(21)和所述散热件(22)导热连接，所述制冷件(21)适于制冷形成温差区域，所述散热件(22)设置在所述制冷件(21)远离所述进样腔的一侧，所述驱动器(23)的安装端和所述机壳固定设置，所述制冷件(21)设置在所述驱动器(23)的驱动端，所述驱动器(23)和所述控制器(3)电性连接，所述驱动器(23)用于驱动所述制冷件(21)靠近抵接所述加热组件(1)或驱动所述制冷件(21)远离所述加热组件(1)。
5.根据权利...
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