一种电学性能量测治具制造技术

本技术公开了一种电学性能量测治具，涉及电学性能测试领域。所述电学性能量测治具包括：至少一个探针，所述探针内设置有焊料通道，焊料通道的末端设置有溢流孔；焊丝，穿设于所述焊料通道内；焊丝推进组件，用于将焊丝向焊料通道末端推进；加热组件，设置于所述焊料通道的下端，用于对所述焊丝进行加热使其熔融再通过所述溢流孔流出，使探针与被测端子导电连接。本技术提供的电学性能量测治具，通过焊丝推进组件将焊丝向焊料通道末端推进，通过加热组件对所述焊丝进行加热使其熔融，使探针与被测端子导电连接，从而无需调整下针角度，可有效降低对测试手法的要求，加快测试速度。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电学性能测试领域，具体涉及一种电学性能量测治具。

技术介绍

1、在各项显示技术中均会使用阵列基板用于驱动电路，其中有源矩阵驱动技术是目前最成熟的技术，其是在每个像素上设计一个非线性的有源器件，使得每个像素可以被独立控制，

2、tft器件的功能是作为三端子开关用于电路的开断，tft的特性决定了显示面板的优劣，实际生产中具体工艺和结构会影响tft开关器件的特性，并且在经过长期使用后，不同使用状态的tft器件其特性也会有不同的变化，如何能够得到tft器件的变化程度是在设计开发仿真过程中的重要事项，并且通过量测tft器件的特性，可以得知工厂生产工艺的稳定性。

3、tft器件由于其本身尺寸较小，其特性量测通常由在显示面板周边布置的testkey器件进行量测，该器件通过将器件端子引出到扎针pad上，从而实现对tft器件特性的测量。但此种测量方式只能量测tft器件的静态特性，无法测得经过长期使用后的tft器件的特性。因此对于显示面板内部的tft器件的测量是非常有必要的。

4、现有显示面板内部tft器件的测量通常是通过镭射断开本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电学性能量测治具，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的电学性能量测治具，其特征在于：还包括探针夹持组件，用于夹持所述探针并移动到指定被测端子位置。

3.根据权利要求2所述的电学性能量测治具，其特征在于：所述探针夹持组件包括三轴移动夹持基座以及显微镜，所述显微镜用于确认探针是否已进入被测端子的凹洞内。

4.根据权利要求1所述的电学性能量测治具，其特征在于：所述探针包括针管和针尖，所述针管内为焊料通道，所述溢流孔设置于所述针管上，且靠近针尖一端。

5.根据权利要求4所述的电学性能量测治具，其特征在于：所述焊料通道表面设有导电层，...

【技术特征摘要】

1.一种电学性能量测治具，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的电学性能量测治具，其特征在于：还包括探针夹持组件，用于夹持所述探针并移动到指定被测端子位置。

3.根据权利要求2所述的电学性能量测治具，其特征在于：所述探针夹持组件包括三轴移动夹持基座以及显微镜，所述显微镜用于确认探针是否已进入被测端子的凹洞内。

4.根据权利要求1所述的电学性能量测治具，其特征在于：所述探针包括针管和针尖，所述针管内为焊料通道，所述溢流孔设置于所述针管上，且靠近针尖一端。

5.根据权利要求4所述的电学性能量测治具，其特征在于：所述焊料通道表面设有导电层，所述针管靠近针尖一端设有第一附着层，所述针尖靠近针管一端设有第二附着层，所述第一附着层和第二附着层用于与导电液体形成低表面能...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩正宇，
申请(专利权)人：华映科技集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：