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【技术实现步骤摘要】
本公开涉及半导体测试,尤其涉及一种测试治具及测试系统。
技术介绍
1、在电路模组,例如内存条的产品开发阶段和后续运维阶段,需要对内存条等电路模组进行测试。然而,现有的测试设备存在着测试信号不准确、影响测试准确性的问题。
技术实现思路
1、以下是对本公开详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
2、本公开第一方面提供一种测试治具,所述测试治具用于与插槽连接器配合,所述插槽连接器包括用于与电路模组插接的插槽、设置于所述插槽两侧的卡槽以及设置于所述卡槽内的端子,所述端子用于与所述插槽内的电路模组抵接,所述测试治具包括至少一个治具单元,所述治具单元包括:
3、信号传输部;
4、插入部,与所述信号传输部连接,所述插入部用于插入所述卡槽中;
5、检测部,设置于所述插入部上,用于与所述卡槽内的端子抵接,以将所述端子上的信号经所述插入部传输至所述信号传输部。
6、根据本公开的一些实施例,所述信号传输部包括电路基板以及设置于所述电路基板内的信号传输电路,所述插入部设置于所述电路基板的一侧并与所述信号传输电路电连接。
7、根据本公开的一些实施例,所述插入部呈条形结构,所述插入部包括直段和倾斜段,所述直段的延伸方向与所述电路基板相平行,所述直段的一端与所述信号传输电路电连接,所述直段的另一端与所述倾斜段的一端相连,所述检测部设置于所述倾斜段的另一端,沿远离所述直段的方向,所述倾斜段向靠近所述端子的方向倾斜。
...【技术保护点】
1.一种测试治具,其特征在于,所述测试治具用于与插槽连接器配合,所述插槽连接器包括用于与电路模组插接的插槽、设置于所述插槽两侧的卡槽以及设置于所述卡槽内的端子,所述端子用于与所述插槽内的电路模组抵接,所述测试治具包括至少一个治具单元,所述治具单元包括:
2.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述信号传输部包括电路基板以及设置于所述电路基板内的信号传输电路,所述插入部设置于所述电路基板的一侧并与所述信号传输电路电连接。
3.根据权利要求2所述的测试治具,其特征在于,所述插入部呈条形结构,所述插入部包括直段和倾斜段,所述直段的延伸方向与所述电路基板相平行,所述直段的一端与所述信号传输电路电连接,所述直段的另一端与所述倾斜段的一端相连,所述检测部设置于所述倾斜段的另一端,沿远离所述直段的方向,所述倾斜段向靠近所述端子的方向倾斜。
4.根据权利要求3所述的测试治具,其特征在于,所述倾斜段的宽度小于所述直段的宽度;和/或,
5.根据权利要求3所述的测试治具,其特征在于,所述检测部与所述倾斜段的另一端的外端点之间的间距小于0.3mm。<
...【技术特征摘要】
1.一种测试治具,其特征在于,所述测试治具用于与插槽连接器配合,所述插槽连接器包括用于与电路模组插接的插槽、设置于所述插槽两侧的卡槽以及设置于所述卡槽内的端子,所述端子用于与所述插槽内的电路模组抵接,所述测试治具包括至少一个治具单元,所述治具单元包括:
2.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述信号传输部包括电路基板以及设置于所述电路基板内的信号传输电路,所述插入部设置于所述电路基板的一侧并与所述信号传输电路电连接。
3.根据权利要求2所述的测试治具,其特征在于,所述插入部呈条形结构,所述插入部包括直段和倾斜段,所述直段的延伸方向与所述电路基板相平行,所述直段的一端与所述信号传输电路电连接,所述直段的另一端与所述倾斜段的一端相连,所述检测部设置于所述倾斜段的另一端,沿远离所述直段的方向,所述倾斜段向靠近所述端子的方向倾斜。
4.根据权利要求3所述的测试治具,其特征在于,所述倾斜段的宽度小于所述直段的宽度;和/或,
5.根据权利要求3所述的测试治具,其特征在于,所述检测部与所述倾斜段的另一端的外端点之间的间距小于0.3mm。
6.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述插入部的长度小于4mm。
7.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述检测部包括与所述插入部相连的第一柱状结构以及可弹性伸缩地设置于所述第一柱状结构中的第二柱状结构,所述第二柱状结构用于与所述端子抵接。
8.根据权利要求7所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员:张彪,
申请(专利权)人:长鑫存储技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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